X射线膜厚仪（膜厚测试仪）:x-ray膜厚测试仪|无损测厚仪

更新时间：2026-10-22 08:03:37

X射线膜厚仪（膜厚测试仪）

X射线膜厚仪（膜厚测试仪）破了X射线荧光仪早期技术和相应理论基础上多年形成的传统观念，以全新理念实现了样品分析自动化、操作简单化、检测分析智能化、数据结果最优化、体积小型化、功能最大化的一次成功尝试。

X射线膜厚仪（膜厚测试仪）采用的测量法特点有以下几种：

1、不需要先对样品进行处理便能测量。样品可以直接放入测量室进行测量，不需特别处理样品。
2、不需要复杂、昂贵的仪器来抽真空，便能在正常的环境下测量从元素Z＝13（铝）至U＝92（铀）
3、固体、浆状及液体的样本也可以测量。即使是极小不规则的测量面积也可快速，免接触的测量。

X射线膜厚仪（膜厚测试仪）应用领域有:
1.测量大规模生产的零部件
2.测量微小区域上的薄镀层
3.测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层
4.全自动测量,如测量印刷线路板

期待您的来电，金东霖科技吴小姐手机：13603036715 TEL：0755-29371651 FAX：29371653 公司网址：www.kinglinhk.com 地址：深圳市宝安中心区创业一路宏发中心大厦1110室x-ray膜厚测试仪|无损测厚仪菲希尔CMI900镀层膜厚测试仪安科瑞光伏电站直流检测表PZ300-DE台式膜厚仪（菲希尔）XULM膜厚仪安科瑞智能直流电能表PZ72L-DE安科瑞直流电流电压组合仪表PZ72-DUI

x-ray膜厚测试仪|无损测厚仪

x-ray膜厚测试仪|无损测厚仪实现了快速、精密、准确的X-射线测量仪器，世界首创光学准直器，可以同时测量多至4层的金属镀层的厚度和成分，测量厚度可以从埃（?）至微米（μm），它也能测量多至24个元素的块状合金成分，其准确度、精密度和稳定性是独一无二的，x-ray膜厚测试仪|无损测厚仪最适合用于微电子器件、数据偶合器、光通讯和数据贮存、半导体、光通讯、微电子、光子学、无源器件和薄层磁头金属化分析等。

x-ray膜厚测试仪|无损测厚仪典型的应用范围如下：
单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金。
双镀层：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
双镀层，其中一个镀层为合金层：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
最多24种镀层（使用WinFTM? V.6软件）。
分析多达4种（或24种－使用V.6软件）元素。
分析电镀溶液中的金属离子浓度。

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