 |
产品型号： | XULM |
| 产品品牌： | 德国fischer | |
| 产品价格： | 面议 | |
| 所 在 地： | 广东 深圳市 | |
| 发布日期： | 2011-08-09 | |
 |
||
详细说明
X射线膜厚仪（膜厚测试仪）破了X射线荧光仪早期技术和相应理论基础上多年形成的传统观念，以全新理念实现了样品分析自动化、操作简单化、检测分析智能化、数据结果最优化、体积小型化、功能最大化的一次成功尝试。
X射线膜厚仪（膜厚测试仪）采用的测量法特点有以下几种：
1、不需要先对样品进行处理便能测量。样品可以直接放入测量室进行测量，不需特别处理样品。
2、不需要复杂、昂贵的仪器来抽真空，便能在正常的环境下测量从元素Z＝13（铝）至U＝92（铀）
3、固体、浆状及液体的样本也可以测量。即使是极小不规则的测量面积也可快速，免接触的测量。
X射线膜厚仪（膜厚测试仪）应用领域有:
1.测量大规模生产的零部件
2.测量微小区域上的薄镀层
3.测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层
4.全自动测量,如测量印刷线路板
期待您的来电，金东霖科技 吴小姐 手机：13603036715 TEL：0755-29371651 FAX：29371653 公司网址：www.kinglinhk.com 地址：深圳市宝安中心区创业一路宏发中心大厦1110室