x-ray膜厚测试仪|无损测厚仪:菲希尔CMI900镀层膜厚测试仪

更新时间：2026-10-22 08:03:37

x-ray膜厚测试仪|无损测厚仪

x-ray膜厚测试仪|无损测厚仪实现了快速、精密、准确的X-射线测量仪器，世界首创光学准直器，可以同时测量多至4层的金属镀层的厚度和成分，测量厚度可以从埃（?）至微米（μm），它也能测量多至24个元素的块状合金成分，其准确度、精密度和稳定性是独一无二的，x-ray膜厚测试仪|无损测厚仪最适合用于微电子器件、数据偶合器、光通讯和数据贮存、半导体、光通讯、微电子、光子学、无源器件和薄层磁头金属化分析等。

x-ray膜厚测试仪|无损测厚仪典型的应用范围如下：
单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金。
双镀层：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
双镀层，其中一个镀层为合金层：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
最多24种镀层（使用WinFTM? V.6软件）。
分析多达4种（或24种－使用V.6软件）元素。
分析电镀溶液中的金属离子浓度。

期待您的来电，金东霖科技吴小姐手机：13603036715 TEL：0755-29371651 FAX：29371653 公司网址：www.kinglinhk.com 地址：深圳市宝安中心区创业一路宏发中心大厦1110室菲希尔CMI900镀层膜厚测试仪安科瑞光伏电站直流检测表PZ300-DE 台式膜厚仪（菲希尔）XULM膜厚仪安科瑞智能直流电能表PZ72L-DE 安科瑞直流电流电压组合仪表PZ72-DUI供应光催化氙灯光源（定制）

菲希尔CMI900镀层膜厚测试仪

菲希尔CMI900镀层膜厚测试仪能提供一般镀层厚度和元素分析功能,不单性能优越,而且价钱超值.分析镀层厚度和元素成色同时进行,只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任. 轻巧的样品室,适合不同大小的样品,功能实用,准确性高,是五金电镀,首饰,端子等行业的首选.

菲希尔CMI900镀层膜厚测试仪可变焦距控制功能和固定焦距控制功能
计算机系统配置戴尔计算机
分析应用软件操作系统：Windows2000中文平台分析软件包：SmartLink FP软件包
－测厚范围可测定厚度范围：取决于您的具体应用。
－基本分析功能采用基本参数法校正。根据您的应用提供必要的校正用标准样品。
样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)
可检测元素范围：CL17 – U92

菲希尔CMI900镀层膜厚测试仪应用程式的例子:
★主要应用程式是在小五金的测量,例如:小螺丝、手表、眼镜、端子等等.
★大面积的样品,例如:线路板
★测量药水的含量是十分方便的,只需要将药水放进另外选购的测量杯,便可以进行测量,这样便可以随时随地的监察电镀槽的药水状况如何,有效率的控制电镀生产.