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    产品介绍

x-ray膜厚测试仪|无损测厚仪


x-ray膜厚测试仪|无损测厚仪
产品型号:
产品品牌: 德国fischer
产品价格: 面议
所 在 地: 广东 深圳市
发布日期: 2011-08-09

详细说明

x-ray膜厚测试仪|无损测厚仪实现了快速、精密、准确的X-射线测量仪器,世界首创光学准直器,可以同时测量多至4层的金属镀层的厚度和成分,测量厚度可以从埃(?)至微米(μm),它也能测量多至24个元素的块状合金成分,其准确度、精密度和稳定性是独一无二的,x-ray膜厚测试仪|无损测厚仪最适合用于微电子器件、数据偶合器、光通讯和数据贮存、半导体、光通讯、微电子、光子学、无源器件和薄层磁头金属化分析等。

x-ray膜厚测试仪|无损测厚仪典型的应用范围如下: 
单一镀层:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。 
二元合金层:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。 
三元合金层:例如Ni上的AuCdCu合金。 
双镀层:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。 
双镀层,其中一个镀层为合金层:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。 
最多24种镀层(使用WinFTM? V.6软件)。 
分析多达4种(或24种-使用V.6软件)元素。 
分析电镀溶液中的金属离子浓度。 

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