塞贝克热电效应测试仪:薄膜应力测试仪

更新时间：2026-05-18 00:24:11

塞贝克热电效应测试仪

访问量：401
型号：SB100
品牌：MMR
北京飞凯曼公司提供塞贝克热电效应测试仪系统。塞贝克效应是一种物理现象，即两种不同的导体材料或者半导体材料之间的温度差异在接触时会产生电势差。当热量施加在两种导体或者半导体中的一个时，热电子流会从热端流向冷端。当这对材料通过电子回路连接时，直流电流（DC）就会从回路中流过。塞贝克效应产生的电压很小，通常在连接点每开氏温度只有几个微伏或几个毫伏。如果温度差足够大，一些塞贝克效应器件可以产生数毫伏甚至数千伏的电压。很多类似的器件可以串联起来增加输出电压或者并联起来增加最大输出电流。如果在节点处维持大的温度差，塞贝克效应器件组成的大型阵列可以作为非常有用的、小规模的电源。
特点和优势
我们的优势在于我们使用了Joule-Thomason热台作为温度控制装置，除此之外，MMR的塞贝克效应测试仪更多的优势体现在很多的科学应用上，包括：
1）塞贝克测试系统具有50 nVolt的分辨率
2）可测试的样品从金属到薄膜
3）高的测试精度和重复性
4）相对参考材料的自动运算
5）结构紧凑
6）宽的温度测试范围：70K 至 730K
7）可测试的样品范围广：包括单晶体、薄膜、线等
自动的热能测量提供如下好处：
8）连续的计算机控制的试验参数可产生接近恒定大小和周期的温度梯度。
9）密度的数量级增加的数据极容易获取
10）一致的数据简化了程序，对于每次测量非常有用
11）可以和霍尔效应测试仪公用平台，降低设备采购成本。
总之，这些因素使得MMR的塞贝克效应测试系统具有非常高的精度和测试重复性。
技术参数：
工作温度范围： 70K ~730K*
最大热测量范围： +/- 50 nVolt
参考和测试通道的增益失配： < 0.1%
加热模块最小功率步进： 0.1 mWatt (决定了通过样品的温度差异)
加热模块最大功率步进： 900 mWatts
自动读数：最大至128
参考材料：铜镍合金-与待测样品相对
温度传感器：铂电阻温度计
样品固定尺寸： 10 mm x 12 mm
样品长度： 2 mm to 10 mm(取决于固定方法)
控制器要求： MMR提供的可编程温度和塞贝克测量控制器
过滤干燥系统要求：标准的过滤干燥系统或者可再生过滤干燥系统
气体要求： 99.998% 的高纯氮气或者氩气，至少1800 psi压力
真空要求：不高于8 mTorr
产品应用
1）汽车和燃油
2）能源利用效率
3）替代能源领域
4）热电制冷
5）很多其他工业和研究领域-每年都会诞生新的应用领域
详细信息请联系我们。
薄膜应力测试仪朗缪尔探针气体质量流量控制器变温霍尔效应测试仪间隙测量仪孔径测量仪

薄膜应力测试仪

型号：FST150
品牌：
北京飞凯曼科技公司提供薄膜应力测试仪。薄膜应力测试仪，又名薄膜残余应力测试仪或薄膜应力仪，是专门用于测试和研究薄膜材料和薄膜制备工艺的必不可少的工具。
薄膜中应力的大小和分布对薄膜的结构和性质有重要的影响, 可导致薄膜的光、电、磁、机械性能改变. 例如, 薄膜中的应力是导致膜开裂或与基体剥离的主要因素, 薄膜中存在的残余应力很多情况下影响MEMS 器件结构的特性, 甚至严重劣化器件的性能, 薄膜的内应力对薄膜电子器件和薄膜传感器的性能有很大的影响.因此, 薄膜应力研究在薄膜基础理论和应用研究中起到重要的作用, 薄膜应力的测量备受关注。再例如在硬质薄膜领域，金属氮化物、氧化物、碳化物等硬质薄膜因具有优越的耐磨、耐腐蚀等特性，被广泛应用于金属材料的防护．硬质薄膜的主要制备方法包括物理气相沉积和化学气相沉积技术．研究发现，沉积态硬质薄膜中存在较大的残余应力，而且沿层深分布不均匀；该残余应力对硬质薄膜一基体系统的性能影响很大-lJ_精确地测量硬质薄膜的残余应力，系统研究它与沉积工艺的关系，对优化硬质薄膜基体系统的性能具有重要的意义．
本公司提供的薄膜应力测试仪基于经典基片弯曲法Stoney公式测量原理，采用先进控制技术和傻瓜化的操作，使得FST150薄膜应力测量仪特别适合于要求快速测量常规薄膜残余应力。根据我们科研工作者长期的扎实的理论研究和实际工艺探索，研制的一套适用于各种薄膜应力测试的装置。近年来，经过国内知名院校和科研单位的实际使用和验证，该仪器具有良好的重复性和准确性，是一款广泛应用于各领域薄膜制备和材料研究的高性价比的仪器。
产品功能和特点：
自动采集分析数据功能；
自动扫查样品边缘，定位样品中心；
自动计算出曲率半径值和薄膜应力值；
对原始表面不平直的基片表面的薄膜，可采取原位测量的方式，计算薄膜应力值。
技术参数：
1.原理：曲率法Stoney公式
2.薄膜应力测量范围：5MPa到50GPa；
3.曲率半径测试范围：0.3-20m
4.曲率半径测试误差：﹤±1%
5.薄膜应力计算误差：﹤±2%
6.测试平台行程：X方向100mm，Y方向50mm
7.样品尺寸：长方形样品
8.样品定位：自动定位原点
9.样品校正：可计算校正原始表面不平直影响
10.主要功能：自动测量采集计算曲率半径和薄膜应力
11.控制：独立PC及控制软件
12.仪器尺寸：1500x380x360mm
详细信息请咨询我们。