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HemiView数字植物冠层分析系统:SunScan冠层分析系统 |
更新时间：2026-05-28 05:08:01 |
HemiView数字植物冠层分析系统访问量：434 型号：HemiView 品牌： 用途：通过处理影像数据文件来获取与冠层结构有关的，例如叶面积指数、光照间隙及间隙分布状况。通过分析辐射数据的相关信息，能够测算出冠层截获的PAR以及冠层下方的辐射水平。其软件可以计算辐射指标、冠层指标、测量地点的光线覆盖状况及直射与漫射光的分布等. 原理：使用180度鱼眼镜头和高清晰度数码相机从植物冠层下方或森林地面向上取像, 再将数码相机的高清晰度影像载入软 [点击查看详情...] http://www.qudaotech.com/Item/Show.asp?m=111&d=17 北京渠道科学器材有限公司 http://www.qudaotech.com 电话：010-62118533/62117098 邮箱：Sales@Qudaotech.com SunScan冠层分析系统出售回收频谱分析仪Agilent8563E 出售回收频谱分析仪Agilent8590E出售回收频谱分析仪Agilent8596E LD-B10-B200F干变温控仪 三达出售回收频谱分析仪8562EC |
SunScan冠层分析系统型号：SunScan 品牌： 用途：SunScan是一款简便的测量和分析冠层中入射和透射光合有效辐射（PAR）的系统，提供了关于影响田间作物生长的限制因素的有价值的信息，如叶面积指数（LAI）。SunScan不需要等待特殊的天气条件进行使用，可以在大多数光照条件下进行测量工作（但是最好是在接近中午的时候）。 特点： ·在植物冠层中测量入射和投射光量子（PAR）； ·直接显示叶面积指数（LAI）； ·专用BF3日照传感器参照测量 [点击查看详情...] http://www.qudaotech.com/Item/Show.asp?m=111&d=3 北京渠道科学器材有限公司 http://www.qudaotech.com 电话：010-62118533/62117098 邮箱：Sales@Qudaotech.com |
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