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产品型号： | HemiView |
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| 产品价格： | 面议 | |
| 所 在 地： | 北京 海淀区 | |
| 发布日期： | 2012-06-04 | |
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详细说明
用途：通过处理影像数据文件来获取与冠层结构有关的，例如叶面积指数、光照间隙及间隙分布状况。通过分析辐射数据的相关信息，能够测算出冠层截获的PAR以及冠层下方的辐射水平。其软件可以计算辐射指标、冠层指标、测量地点的光线覆盖状况及直射与漫射光的分布等. 原理：使用180度鱼眼镜头和高清晰度数码相机从植物冠层下方或森林地面向上取像, 再将数码相机的高清晰度影像载入软 [点击查看详情...]
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