| 会员中心 | 设为首页 | 添加收藏 |
 |
| 当前位置：首页 > 供应信息 > 产品信息 > |
TRAC植物冠层分析仪:HemiView数字植物冠层分析系统 |
更新时间：2026-02-15 18:25:37 |
TRAC植物冠层分析仪访问量：439 型号：TRAC 品牌：渠道 用途：叶面积指数（LAI）与植物冠层吸收的光合有效辐射分量(FPAR)是在生态学与气候学中是重要的生物物理参数。这些参数在生态学及气候学领域中有着广泛的应用。TRAC植物冠层分析仪采用独特的创新技术，在冠层下方沿着横断面测定植物冠层吸收的光合有效辐射分量，然后将之转换为林隙比例分布，从而计算出叶面积指数等其它参数。 特点：·完整的光学测量和数据采集单元：·3个波长范围400~ [点击查看详情...]http://www.qudaotech.com/Item/Show.asp?m=111&d=312HemiView数字植物冠层分析系统SunScan冠层分析系统 出售回收频谱分析仪Agilent8563E出售回收频谱分析仪Agilent8590E 出售回收频谱分析仪Agilent8596ELD-B10-B200F干变温控仪 三达 |
HemiView数字植物冠层分析系统型号：HemiView 品牌： 用途：通过处理影像数据文件来获取与冠层结构有关的，例如叶面积指数、光照间隙及间隙分布状况。通过分析辐射数据的相关信息，能够测算出冠层截获的PAR以及冠层下方的辐射水平。其软件可以计算辐射指标、冠层指标、测量地点的光线覆盖状况及直射与漫射光的分布等. 原理：使用180度鱼眼镜头和高清晰度数码相机从植物冠层下方或森林地面向上取像, 再将数码相机的高清晰度影像载入软 [点击查看详情...] http://www.qudaotech.com/Item/Show.asp?m=111&d=17 北京渠道科学器材有限公司 http://www.qudaotech.com 电话：010-62118533/62117098 邮箱：Sales@Qudaotech.com |
 |
热门产品 |  |
 |
|