极紫外光谱仪:温度冲击试验机/高低温冲击试验机

更新时间：2026-05-24 05:30:04

极紫外光谱仪

访问量：757
型号：111
品牌：海洋光电
产品编号： 471542516
产品名称： VUVaS2000真空极紫外光谱仪
规　　格： VUVaS2000真空极紫外光谱仪
产品备注：
产品类别：光谱测试仪器

产品说明

VUVaS2000真空极紫外光谱仪

VUVaS 2000 双光束真空紫外光谱仪是McPherson 公司推出的世界领先的检测不同种类的材料在真空紫外波段（115-380nm 波长范围)的吸收谱、透射谱和反射谱的检测仪器。可以根据用户的要求定制不同规格的样品室和样品架，测量不同大小、不同厚度的样品，并可进一步选择偏振和荧光发射测量，为不同材料在真空紫外波段的研究与应用提供最先进的测试手段。

由于VUVaS 2000 型真空紫外光谱仪采用的是真空斩波和锁相放大技术从而极大地提高了信号检测的灵敏度和信躁比，是目前在这个波段开展上述弱信号测量国际最领先的仪器产品。

特点:

·校准紫外光谱仪设计

·真空可以工作

·覆盖115~380nm

·样品可调整

·探测器角度可调

·传输路径，反射率和散射测量

·可选择—大面积样品扫描图

·可选择—低温样品加载

·可选择—连接偏光镜

·可选择—紫外荧光发射附属设备

【参数表】

1. 光学特征

光度精确度
（157nm处）≤0.05%T(RSD)

光度准确度
(115nm-380nm) ≤0.3%T(RSD) 标准0.2%T（RSD）

光学稳定性
0.5%T/小时

光学噪声
优于0.17%T

2．光谱特征

波长范围
氘灯连续光源提供波长115nm-380nm

单色仪
McPherson公司改进的Seya-Namioka Model 234/302单色仪

光栅
III型镀MgF2 的凹面全息光栅，1200刻线/毫米

相对孔径
f/4.5

波长准确度
0.1nm

波长重复性
±0.03nm

分辨率
0.01mm狭缝分辨率为0.1nm

带通
带通宽度随狭缝宽度改变从0.1nm-10nm可调

3．样品测量

光束
校准/可变

斩波器
反射型斩波器（标准工作频率为90Hz）

探测器
R268型光电倍增管

测量方式
透射谱（吸收谱）、反射谱、散射谱、激发谱

探测器位置
相对于发射光束成20°-180°角

样品位置
相对于发射光束成0°-90°角

样品架尺寸
可容纳1英寸直径或2x2英寸或2英寸直径的样品（根据要求订制）

滤光片
5个可放25mm直径滤光片的位置

配件
225nm长通滤光片用于230nm-380nm的光谱范围

4.真空系统

真空泵
两个涡轮分子泵，闸式阀门控制净化样品区域

真空范围
典型工作压力为10-5torr,样品区可被单独净化

5．控制系统

控制器
LabView windows软件用于波长控制和信号恢复，图形式/数字式输出反射谱及透射谱信号

输入电压
220 V / 15 A / 50 Hz

工作环境
一般实验室环境

温度冲击试验机/高低温冲击试验机跌落测试仪/落下试验机抗压测试机/堆码试验机跑马式振动试验台/振动测试仪教学型光谱仪近红外光谱仪

温度冲击试验机/高低温冲击试验机

型号：
品牌：
温度冲击试验机/高低温冲击试验机
温度冲击试验机/高低温冲击试验机适用于电子、汽车配件、塑胶等行业，测试各种材料对高、低温的反复冲击能力。检测产品于热胀冷缩所产生的化学变化或物理伤害，确保产品的品质。
温度冲击试验机/高低温冲击试验机GT-TC-64Z
满足标准：产品满足CNSMIL、IEC、JIS、等标准
主要技术指标：
冷热冲击试验箱温度范围：高温箱： +60℃～200℃；
低温箱： 0℃～-70℃；　
温度波动度：±0.5℃;
温度均匀：±2℃;
升温速率：≤5℃/min； (全程平均)　
降温速率：≤5℃/min；； (全程平均)
预冷下限温度：≤-70℃
冷热冲击试验箱冲击温度：+150～-60℃;
工作室尺寸： 400×400×400mm; （深×宽×高）
样品架尺寸:150×150mm;
温度恢复时间： 5min;
样品架转换时间：≤10s;
冲击方式：上下移动提篮式或翻板式
电源：380V±10﹪ 50Hz
为了保证试验箱降温速率和最低温度的要求，本冷热冲击试验箱采用一套进口法国 “泰康”全封闭压缩机所组成的二元复叠式风冷制冷系统。复叠制冷系统包含一个高温制冷循环和一个低温制冷循环; 原装进口液晶显示触控式莹幕直接按键型控制器,中文表示7.5”的图形之广视角,高对比附可调背光功能之大型LCD液晶显示控制器。
特殊要求可订做。