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金属膜厚测量仪-fischer品牌:X射线膜厚仪(膜厚测试仪)

更新时间:2026-05-07 04:55:35

金属膜厚测量仪-fischer品牌


访问量:529
型号:XDLM
品牌:德国fischer
金属膜厚测量仪-fischer是采用X射线放射原理设计的,可对样品进行无破坏,无接触的测量,保证样品的完整性,减少不必要的浪费,并且先进的FP数字计算法,对测量数据进行精确的计算,确保测量数据的准确性,是线路板,五金电镀,首饰,端子等行业的首选,可测量各类金属层、合金层厚度.

金属膜厚测量仪-fischer的优点
> 采用国际上最先进的、稳定性最好的射线源,体积小,使用寿命长,易维护。
> 设备结构简洁、操作简单、部件更换快速、简单,便于维护。
> 快速多点校正法技术保证了系统的长期精度。
> 快速、连续、非接触测量、实时显示高精度测量值。
> 操作站:提供中英文操作界面(Win2000)。采用web以太网平台,使用最新的JAVA 技术。
> 采用双放大技术和独特大电离室,提升测量范围及精度。

金属膜厚测量仪-fischer的应用范围 :1、分析电子部品电镀层的厚度
   2、各类五金电镀件的镀层厚度管控分析
3、各镀层的成分比例分析。

期待您的来电,金东霖 吴小姐 手机:13603036715 TEL:0755-29371651 FAX:29371653 公司网址:www.kinglinhk.com 地址:宝安中心区宏发中心大厦X射线膜厚仪(膜厚测试仪)x-ray膜厚测试仪|无损测厚仪 菲希尔CMI900镀层膜厚测试仪安科瑞 光伏电站直流检测表PZ300-DE 台式膜厚仪(菲希尔)XULM膜厚仪安科瑞 智能直流电能表PZ72L-DE

X射线膜厚仪(膜厚测试仪)


型号:XULM
品牌:德国fischer
X射线膜厚仪(膜厚测试仪)破了X射线荧光仪早期技术和相应理论基础上多年形成的传统观念,以全新理念实现了样品分析自动化、操作简单化、检测分析智能化、数据结果最优化、体积小型化、功能最大化的一次成功尝试。

X射线膜厚仪(膜厚测试仪)采用的测量法特点有以下几种:

1、不需要先对样品进行处理便能测量。样品可以直接放入测量室进行测量,不需特别处理样品。
2、不需要复杂、昂贵的仪器来抽真空,便能在正常的环境下测量从元素Z=13(铝)至U=92(铀)
3、固体、浆状及液体的样本也可以测量。即使是极小不规则的测量面积也可快速,免接触的测量。

X射线膜厚仪(膜厚测试仪)应用领域有:
1.测量大规模生产的零部件
2.测量微小区域上的薄镀层
3.测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层
4.全自动测量,如测量印刷线路板

期待您的来电,金东霖科技 吴小姐 手机:13603036715 TEL:0755-29371651 FAX:29371653 公司网址:www.kinglinhk.com 地址:深圳市宝安中心区创业一路宏发中心大厦1110室
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