金属膜厚测量仪-fischer品牌:X射线膜厚仪（膜厚测试仪）

更新时间：2025-10-15 15:33:41

金属膜厚测量仪-fischer品牌

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型号：XDLM
品牌：德国fischer
金属膜厚测量仪-fischer是采用X射线放射原理设计的,可对样品进行无破坏,无接触的测量,保证样品的完整性,减少不必要的浪费,并且先进的FP数字计算法,对测量数据进行精确的计算,确保测量数据的准确性,是线路板,五金电镀,首饰,端子等行业的首选,可测量各类金属层、合金层厚度.

金属膜厚测量仪-fischer的优点
> 采用国际上最先进的、稳定性最好的射线源，体积小，使用寿命长，易维护。
> 设备结构简洁、操作简单、部件更换快速、简单，便于维护。
> 快速多点校正法技术保证了系统的长期精度。
> 快速、连续、非接触测量、实时显示高精度测量值。
> 操作站：提供中英文操作界面(Win2000)。采用web以太网平台，使用最新的JAVA 技术。
> 采用双放大技术和独特大电离室，提升测量范围及精度。

金属膜厚测量仪-fischer的应用范围 :1、分析电子部品电镀层的厚度
　　 2、各类五金电镀件的镀层厚度管控分析
3、各镀层的成分比例分析。

期待您的来电，金东霖吴小姐手机：13603036715 TEL：0755-29371651 FAX：29371653 公司网址：www.kinglinhk.com 地址：宝安中心区宏发中心大厦X射线膜厚仪（膜厚测试仪）x-ray膜厚测试仪|无损测厚仪菲希尔CMI900镀层膜厚测试仪安科瑞光伏电站直流检测表PZ300-DE 台式膜厚仪（菲希尔）XULM膜厚仪安科瑞智能直流电能表PZ72L-DE

X射线膜厚仪（膜厚测试仪）

型号：XULM
品牌：德国fischer
X射线膜厚仪（膜厚测试仪）破了X射线荧光仪早期技术和相应理论基础上多年形成的传统观念，以全新理念实现了样品分析自动化、操作简单化、检测分析智能化、数据结果最优化、体积小型化、功能最大化的一次成功尝试。

X射线膜厚仪（膜厚测试仪）采用的测量法特点有以下几种：

1、不需要先对样品进行处理便能测量。样品可以直接放入测量室进行测量，不需特别处理样品。
2、不需要复杂、昂贵的仪器来抽真空，便能在正常的环境下测量从元素Z＝13（铝）至U＝92（铀）
3、固体、浆状及液体的样本也可以测量。即使是极小不规则的测量面积也可快速，免接触的测量。

X射线膜厚仪（膜厚测试仪）应用领域有:
1.测量大规模生产的零部件
2.测量微小区域上的薄镀层
3.测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层
4.全自动测量,如测量印刷线路板

期待您的来电，金东霖科技吴小姐手机：13603036715 TEL：0755-29371651 FAX：29371653 公司网址：www.kinglinhk.com 地址：深圳市宝安中心区创业一路宏发中心大厦1110室