布鲁克原veeco大样品台高性价比AFM—Edge:布鲁克原veeco最高端AFm—Fastscan

更新时间：2026-11-16 02:03:37

布鲁克原veeco大样品台高性价比AFM—Edge

布鲁克Bruker（原veeco）大样品台高性价比AFM—-Edge
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Dimension Edge——性价比高，大样品台AFM的最佳解决方案

Dimension® Edge™ 原子力显微镜采用最新技术，其仪器性能、测试功能和操作性在同类产品中处于最高水平。基于顶级的Dimension Icon®平台, Dimension Edge系统的整体设计使其具有低漂移、低噪音的特点, 大大提高了数据获取速度和可靠性，使用这台全新的仪器，几分钟时间即可获得高质量、可发表的专业数据。这些检测性能的提高，并没有影响仪器的价格，绝对低于您对如此高性能原子力显微镜的支出预算。此外，视觉反馈集成化和预配置可选功能辅助用户获得更高质量的测量结果。整套仪器充满人性化的设计，适用于各个研究阶段和科研水平的用户。

性价比最高的闭环Dimension系列AFM

专利的传感器设计既获得了闭环的精度，又具有开环的噪音水平。

显著地降低噪音和漂移，在大样品台AFM上实现了小样品台AFM的成像性能。

显微镜和电路的设计既保证了高成像性能，又使得价格适中。

快速，精确，高分辨的测量结果

全新的可视化操作界面,整体采用流程式设计，确保快速简便的设定各步骤参数

5百万像素的高分辨率相机和马达驱动可编程平台，提供快速样品导航和高效多点测量

从大范围扫描到最高分辨检测的无缝过渡可在短时间内获得准确结果。

适用于任何样品上的任何应用的解决方案

开放式平台设计可适应各种实验和样品的需求。

新仪器的设计和软件利用了最完备的Bruke AFM扫描模式和检测技术，满足最前沿的应用需求。

内置的信号路由模块，帮助研究者根据新的研究方向和实验需求，自定义检测模式。

先进的纳米级测量能力，适用于各研究水平

创新型模块化设计，不提高仪器成本的前提下，实现更高的测量性能。

最新的8型软件，凝聚10几年AFM专业研发精华，常规扫描模式外，根据实验需求，配备各种备选模式。

完整的控制平台，既可直观导航，又可进行强大的编程控制。

DIMENSION系列AFM提供了最优质的AFM性能

Dimension Edge原子力显微镜既具有卓越性能，保留了Dimension ICON系统的诸多技术创新，中等价位的价格与仪器功能达到了最好的平衡。其中最核心的技术是 Bruker创新性的闭环扫描，结合温度补偿位置传感器和模块化的低噪音控制电路，这套针尖扫描部件把闭环噪音减小到了单个化学键长度。为了最大限度的发挥这一优点，扫描器被固定在一个坚固的，具有漂移补偿的桥梁结构上。此桥梁结构基于FPGA的温度控制并快速稳定到极低的漂移速率。因此，Dimension Edge原子力显微镜结合了高生产效率，高精度，大样品台的样品通用性，闭环操作和以前仅在小样品台、开环仪器上才能获得的高分辨率图像等特点，能够获得任何样品的真实图像，实现突破性的实验成果。

完备的AFM功能

Dimension Edge既包含了各种常规的扫描模式和Bruker专利技术，还提供了针对各种具体应用领域的解决方案，例如纳米级的电学测量，可控环境下的材料表征等。这些功能都能够在广泛应用中获得精确成像和单点谱线测量，例如从太阳能和半导体器件的表征和多相聚合物材料成像，到从单分子到全细胞的生命科学样品的原位成像和单个纳米颗粒的研究。

电学表征
Dimension Edge不仅仅是把一个AFM探针连接到低噪音电流放大器上，而是开发了Dark Lift模式，Dark Lift是在导电原子力数据把光电效应从样品的本征电导性中清晰分离的唯一方法。它是基于布鲁克已申请专利的，应用磁力显微镜和静电力显微镜中著名的抬起模式（Lift Mode）。系统利用这两种性能以确保在静电电势成像应用的最优化测试。迄今为止，结合了Dark Lift模式的闭环（常损耗量）的扫描电容显微镜（SCM）依然是对掺杂浓度表征的最精确的解决方案。然而，如果研究者想要以最高灵敏度来探测小电压的变化，也可很容易地把抬起模式与表面电势显微镜结合起来。Dimension Edge系统通过双频的方法，能够为任何静电电势成像的应用提高理想的解决方案。布鲁克原veeco最高端AFm—Fastscan布鲁克原veeco性能标杆AFm—Icon 婴儿超声波身高体重测量仪报价0-3岁婴幼儿超声波身高体重测量仪康娃婴幼儿超声波智能身高体重测量仪婴幼儿智能身高体重测量仪

布鲁克原veeco最高端AFm—Fastscan

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Dimension FastScan——世界上扫描速度最快的原子力显微镜

扫描速度的全新诠释，拥有最高的扫描分辨率，最优异的仪器检测性能
Dimension FastScanTM原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM），在不损失Dimension Icon 超高的分辨率和卓越的仪器性能前提下，最大限度的提高了成像速度。这项突破性的技术创新，从根本上解决了AFM成像速度慢的难题，大大缩短了各技术水平的AFM用户获得数据的时间。
为满足AFM使用者对提高AFM使用效率的需求，Bruker开发了这套快速扫描系统，不降低分辨力，不增加设备复杂性，不影响仪器操作成本的前提下，帮助用户实现了利Dimension快速扫描系统，即时快速得到高分辨高质量AFM图像的愿望。当您对样品进行扫描时，无论设置实验参数为扫描速度> 125Hz，还是在大气下或者溶液中1秒获得1张AFM图像，都能得到优异的高分辨图像。快速扫描这一变革性的技术创新重新定义了AFM仪器的操作和功能。
高效率
在空气或液体中成像速度是原来速度的100倍，自动激光调节和检测器调节，智能进针，大大缩短了实验时间。
自动测量软件和高速扫描系统完美结合，大幅提高了实验数据的可信度和可重复性。
高分辨率
Fastscan精确的力控制模式提高图像分辨率的同时，延长了探针的使用寿命。
扫描速度20Hz时仍能获得高质量的TappingModeTM图像，扫描速度6Hz仍能获得高质量的ScanAsyst图像。
低噪音，温度补偿传感器展现出亚埃级的噪音水平。
在任何样品上均有卓越表现
闭环控制的Icon和FastScan的扫描管极大地降低了Z方向噪音，使它们Z方向的噪音水平分别低于30pm和40 pm，具有超低的热漂移率，可得到超高分辨的真实图像。
Fast Scan可以对不同样品进行测量，保证高度从埃级到100多纳米的样品高精度无失真扫描。
Dimension Fastscan是世界上第一台将扫描速度、分辨率、精确度和噪音控制完美结合的AFM，真正实现了快速扫描原子力显微镜的商业化应用。为了实现AFM扫描速度变革性的提升，Bruker的工程师致力于AFM技术的改造和完善。
■采用最低热漂移的针尖扫描AFM技术，提高了系统的固有振动频率。
■应用新的NanoScope控制器，为机器提供了更高的带宽。
■开发了小悬臂的生产工艺，在空气中共振频率为1.3MHz，在液体中共振频率为250KHz到500KHz。
■采用了低噪音的机械和电子的主要部件，结合高共振频率X-Y-Z扫描管，在技术上获得了重大突破。
■更高的带宽提供了精确的力控制和高扫描速度，结合高精度的闭环控制，在效率上远远高于其它任何商业化的AFM。
■以20Hz扫描速度进行TappingMode成像得到的图片的分辨率和以1Hz扫描速度得到的图片的分辨率一样高，即使使用更高的扫描速度>100Hz,图像分辨率同样不会降低。
■在ScanAsyst模式中，使用6Hz的扫描速度可以得到高分辨率的图片，即使扫描速度达到32Hz同样可以得到普通分辨率的图片。
■Z方向，探针在Contact模式中移动速度可达到12mm/s，同时在闭环工作中X-Y方向的移动速度达到2.5mm/s， X-Y方向的跟踪误差<1%，真正使Fastscan成为了世界上第一台快速扫描AFM。
■ 自动的激光和检测器的调节使得实验的组建更为快速有效。
■ 系统使用自带的样品导航软件MIRO，利用光学成像系统能够在几分钟之内分辨并抓取纳米级的样品特征。
最新的光学系统可以使用任何Bruker的探针，在不降低系统稳定性的前提下，得到最好的激光信号调节。
■ 针尖扫描系统的设计与210mm大尺寸样品台结合，消除了样品尺寸的限制，同时维持了最低的噪音和热漂移水平。