布鲁克原veeco最高端AFm—Fastscan:布鲁克原veeco性能标杆AFm—Icon

更新时间：2026-11-16 01:55:41

布鲁克原veeco最高端AFm—Fastscan

布鲁克Bruker（原veeco）最高端AFm—Fastscan
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Dimension FastScan——世界上扫描速度最快的原子力显微镜

扫描速度的全新诠释，拥有最高的扫描分辨率，最优异的仪器检测性能
Dimension FastScanTM原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM），在不损失Dimension Icon 超高的分辨率和卓越的仪器性能前提下，最大限度的提高了成像速度。这项突破性的技术创新，从根本上解决了AFM成像速度慢的难题，大大缩短了各技术水平的AFM用户获得数据的时间。
为满足AFM使用者对提高AFM使用效率的需求，Bruker开发了这套快速扫描系统，不降低分辨力，不增加设备复杂性，不影响仪器操作成本的前提下，帮助用户实现了利Dimension快速扫描系统，即时快速得到高分辨高质量AFM图像的愿望。当您对样品进行扫描时，无论设置实验参数为扫描速度> 125Hz，还是在大气下或者溶液中1秒获得1张AFM图像，都能得到优异的高分辨图像。快速扫描这一变革性的技术创新重新定义了AFM仪器的操作和功能。
高效率
在空气或液体中成像速度是原来速度的100倍，自动激光调节和检测器调节，智能进针，大大缩短了实验时间。
自动测量软件和高速扫描系统完美结合，大幅提高了实验数据的可信度和可重复性。
高分辨率
Fastscan精确的力控制模式提高图像分辨率的同时，延长了探针的使用寿命。
扫描速度20Hz时仍能获得高质量的TappingModeTM图像，扫描速度6Hz仍能获得高质量的ScanAsyst图像。
低噪音，温度补偿传感器展现出亚埃级的噪音水平。
在任何样品上均有卓越表现
闭环控制的Icon和FastScan的扫描管极大地降低了Z方向噪音，使它们Z方向的噪音水平分别低于30pm和40 pm，具有超低的热漂移率，可得到超高分辨的真实图像。
Fast Scan可以对不同样品进行测量，保证高度从埃级到100多纳米的样品高精度无失真扫描。
Dimension Fastscan是世界上第一台将扫描速度、分辨率、精确度和噪音控制完美结合的AFM，真正实现了快速扫描原子力显微镜的商业化应用。为了实现AFM扫描速度变革性的提升，Bruker的工程师致力于AFM技术的改造和完善。
■采用最低热漂移的针尖扫描AFM技术，提高了系统的固有振动频率。
■应用新的NanoScope控制器，为机器提供了更高的带宽。
■开发了小悬臂的生产工艺，在空气中共振频率为1.3MHz，在液体中共振频率为250KHz到500KHz。
■采用了低噪音的机械和电子的主要部件，结合高共振频率X-Y-Z扫描管，在技术上获得了重大突破。
■更高的带宽提供了精确的力控制和高扫描速度，结合高精度的闭环控制，在效率上远远高于其它任何商业化的AFM。
■以20Hz扫描速度进行TappingMode成像得到的图片的分辨率和以1Hz扫描速度得到的图片的分辨率一样高，即使使用更高的扫描速度>100Hz,图像分辨率同样不会降低。
■在ScanAsyst模式中，使用6Hz的扫描速度可以得到高分辨率的图片，即使扫描速度达到32Hz同样可以得到普通分辨率的图片。
■Z方向，探针在Contact模式中移动速度可达到12mm/s，同时在闭环工作中X-Y方向的移动速度达到2.5mm/s， X-Y方向的跟踪误差<1%，真正使Fastscan成为了世界上第一台快速扫描AFM。
■ 自动的激光和检测器的调节使得实验的组建更为快速有效。
■ 系统使用自带的样品导航软件MIRO，利用光学成像系统能够在几分钟之内分辨并抓取纳米级的样品特征。
最新的光学系统可以使用任何Bruker的探针，在不降低系统稳定性的前提下，得到最好的激光信号调节。
■ 针尖扫描系统的设计与210mm大尺寸样品台结合，消除了样品尺寸的限制，同时维持了最低的噪音和热漂移水平。

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布鲁克原veeco性能标杆AFm—Icon

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Dimension Icon-AFM性能和效率的全新定义

Dimension Icon 原子力显微镜(AFM）的性能、功能及附件等方面具有全新表现，在聚合物、半导体、能源、数据存储及材料领域的纳米研究中将会得到广泛应用。Dimension Icon是Dimension系列产品中的最新款设备,它基于世界上应用最广泛的AFM平台，集合了数十年的技术创新、行业内领先的应用定制及客户反馈等于一身。这个系统经过从上到下的设计，在易用性、高分辨率及快速成像等方面有突出表现。

Dimension Icon 比当今市场上任何一款大样品台 AFM 具有更低的噪音水平和更高准确度。
多项创新技术相结合，即使测量难度大的样品也能得到很高的图像保真效果和数据重复性。

每分钟少于 200pm 的热漂移速率，全新直观的用户界面，性能卓越的 Dimension AFM 平台，三者结合为这台仪器提供了无与伦比的操作性能，保证你在短时间内得到测试结果并发表出版。

Dimension 系列原子力显微镜不断演变升级，以迎合飞速发展的科研需求，最新型号的 Dimension Icon 可以配备全套的 AFM 附件和操作模式。

技术参数：
X-Y方向扫描范围：90um *90um典型值，最小85um
Z方向扫描范围：10um典型值，在成像及力曲线模式下；最小9.5um
垂直方向噪音基底：<30pmRMS, 在合适的环境及典型的成像带宽（达到625Hz）
X-Y定位噪音（闭环）：<0.15nm RMS，典型成像带宽（达到625Hz）
X-Y定位噪音（闭环）：<0.10nm RMS，典型成像带宽（达到625Hz）
Z传感器噪音水平（闭环）：<35pm RMS, 典型成像带宽（达到625Hz）
整体线性误差（X-Y-Z）：0.5% 典型值

样品尺寸/夹具：210mm真空吸盘样品台，直径210mm, 厚度15mm
电动定位样品台（X-Y轴）：180mm*180mm可视区域；单向2um重复性；双向3um重复性。
显微镜光学系统：五百万像素数字照相机
180um至1465um可视范围
数字缩放及自动对焦功能

控制器：NanoScope V型控制器
工作台：整合所有控制器、结合人体工学设计，提供直接的物理或可视借口
震动隔绝：整体式气动减震台
声音隔绝：可隔绝环境中85 dBC的持续噪音

主要特点：
结合Veeco最新的行业领先的针尖-扫描AFM技术，Icon的温度补偿定位传感器使Z轴的的噪音水平达到亚-埃米级，X-Y方向达埃米级。在大样品台、90微米扫描范围系统的仪器当中，这种表现是非常突出的，优于绝大部分的开环、高分辨率AFM系统的噪音水平。

Icon不仅具有非常好的分辨率，它还具备许多新的特性，以增加新老AFM用户操作仪器的便捷性及出图像速率：
• 专利设计的扫描管，实现闭环扫描功能同时，具有开环扫描管的噪音水平，在大样品AFM系统中实现前所未有的分辨率
• 全新设计的XYZ闭环扫描管，在不影响图像质量下具有非常高的扫描速度，具有非常快的数据采集能力
• 最新的NanoScope软件版本，提供直观的操作流程及默认实验模块，将复杂的AFM操作流程转化为预先设置
• 高分辨率的照相机及X-Y定位，实现更迅速、更有效的样品定位
• 完全开放的针尖及样品环境，适用于绝大部分的标准或定制实验
• 硬件及软件设置适用Veeco现有的及即将推出的所有模式及技术，包括现有的最先进的HarmoniX纳米材料性能成像模式