MVI光诱导力显微镜:sMIM-扫描近场微波阻抗显微镜

更新时间：2026-11-12 12:02:35

MVI光诱导力显微镜

光诱导力显微镜基于原子力显微镜平台,通过外置激光以一定的频率激发在探针和样品上，探针和样品因此受到诱导偶极。AFM探针可以通过频率调制获得样品内部的电子能级变化，振动能级及转动能级变化。再将频率调制后得到的结果进行傅立叶变化，以获得相应的紫外可见吸收光谱或红外光谱。得益于探针的曲率半径，其光谱的空间分辨率最大可达10nm。PiFM也能和拉曼光谱进行联用，并具备散射式扫描近场光学显微镜功能。

原子力显微镜-散射式扫描近场光学显微镜-紫外可见吸收光谱-红外光谱-拉曼光谱联用系统
光诱导力显微镜（Photo-induced Force Microscopy），同时获得形貌以及光诱导力图像
Nano-UV & Vis，最高10nm空间分辨紫外可见吸收光谱/分光光度计
Nano-IR，最高10nm空间分辨的红外光谱
Nano Hyperspectral Imaging，纳米空间分辨的高光谱（连续波段，高光谱分辨率）
s-SNOM，散射式扫描近场光学显微镜
Nano-Raman/TERS，最高10nm空间分辨的针尖拉曼光谱
正置与倒置光路一体式设计，适合透明与不透明样品
支持多种反馈方式，AFM激光反馈（OBD），AFM音叉反馈（TF）
支持紫外、可见、红外、太赫兹波段测试sMIM-扫描近场微波阻抗显微镜农药残留检测仪红外线水分检测仪微型气体质量流量计0-10L/min 广西流量计*广西测水涡轮流量计医用红外热像仪

sMIM-扫描近场微波阻抗显微镜

sMIM-扫描近场微波阻抗显微镜模块适配于各类主流品牌的AFM。其不仅能进行纳米尺度空间分辨的电导率及介电常数的测量，还能进行载流子浓度以及半导体P/N型的测量。相比于导电原子力显微镜，sIMM很好的弥补了其无法测量绝缘体的遗憾。相比于扫描电容显微镜，sIMM拥有更高测量频率从而实现更高电学分辨率。因此，sIMM适合于各类材料包括导体、半导体、绝缘体/电介质、掩埋式结构、晶体管等样品。

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50nm超高分辨率，~100nm内部电学探测，导体、半导体、绝缘体的广泛适用度，为您提供电导率、介电常数、掺杂浓度纳米级

高灵敏度电学表征成像的解决方案。

适配各种AFM平台的独立扫描模块

模块包括微波信号发生器、探针干涉模块、

自主专利同轴屏蔽探针、以及微波近场软件，可

应用于各种AFM平台。

特殊MEMS结构探针，有效避免散杂磁场的干扰。

专业多功能自由切换电学显微镜测试功能体验

sMIM-C成像：介电常数、电容变化；

sMIM-R成像：电导率、电阻率变化；

dC/dV 振幅：载流子浓度；

dC/dV 相位：载流子类型+/- ；

dR/dV 振幅：相关损失系数；

dR/dV 相位：相关损失系数；

高精度电学测试，50nm分辨率

工业级高灵敏度、低噪音，“Hard stuff”材料电学测试不再是难题

可实现表面下成像、检测（>100nm)

不同材料同步测量

导体、半导体、绝缘体、电介质都可以实现，不同的材料甚至分类都可以在一次扫描中观测

简易操作

不需要样品特别处理，不需要将样品放置在导电或电流中，人性化软件设计，操作简单

接触和非接触多种扫描模式

即使在做力曲线，只要想实现，就可以同时获得电学数据。