分析电子天平:光学测高二次元影像仪

更新时间：2026-09-07 10:55:58

分析电子天平

访问量：438
型号：FA/FC
品牌：上海友中衡电子
分析天平
产品用途：
上海精科分析天平
产品用途：
校准方式：外部校准

精度：0.1mg

称量范围：100g

参考价格：7000

适用范围
FA/FC系列电子分析天平是集精确、稳定、多功能与自动化于一体的最先进电子天平，可以满足所有实验室质量分析要求。该天平采用高性能MCS-51单片微处理机控制，以确保天平称量结果高精确度，并具有标准的信号输出口，可直接连接打印机、计算机等设备来扩展天平的使用,使您的称量分析更加现代化，工作更轻松。
产品介绍
功能特点
自动校准全透明设计
积分时间可调称量范围更大
灵敏度可调电源外置
故障报警蓝色背光
悬挂称量液晶大字体显示
去皮重
累计称量
称量单位转换（克、克拉、盎司）
计数功能
打印功能
RS232C，标准输出接口

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光学测高二次元影像仪

型号：QV系列
品牌：snicety
QV系列光学测高二次元3D视像测量系统采用美国NAVITER 0.7-4.5X，同轴共焦的光学设计变焦镜头，配上专为光学测量而设计的日本 WATC 1/2″CCD彩色影像系统，将被测工件的表面纹理清晰地显现，轮廓层次分明，精确无误高性能，高清晰镜头。

光学测高二次元的详细介绍

1、QV系列光学测高二次元3D视像测量系统采用美国NAVITER 0.7-4.5X，同轴共焦的光学设计变焦镜头，配上专为光学测量而设计的WATC 1/2″CCD彩色影像系统，将被测工件的表面纹理清晰地显现，轮廓层次分明，精确无误高性能，高清晰镜头。

2、QV系列光学测高二次元X/Y两轴均装有分辨率为0.001mm的精度的光学尺测量系统，X/Y轴的量测精密度高达（2.0+L/200）um。

3、QV系列光学测高二次元工作台铸铁采用天然失效处理，配合瑞士进口SCHNEEBERGER导轨，具有超高精度。

4、QV系列光学测高二次元完善的自动寻边界及去毛刺功能，减少人为误差，提高工作效率。

技术参数：

仪器型号 QV-B1010 QV-B2010 QV-B2015 QV-B3020 QV-B4030
X Y测量行程 100*100mm 200*100mm 200*150mm 300*200mm 360*260mm
Z轴调焦 150mm 150mm 150mm 150mm 250mm
载重量 15Kg 15Kg 15Kg 15Kg 20Kg
分辩率 0.001/0.0005/0.0001mm
测量精度 (2.5+L/200)um，L=测量长度（单位：mm）
镜头超低变形，美国NAVITER多段倍率同轴共焦光学设计镜头
放大倍率光学放大倍率0.7-4.5X，影像放大倍率19－180X
影像系统高解析度日本WATEC 1/2″彩色CCD摄像头
重复性 2um
操作方式手动
外形尺寸 1000*600*1400mm 1000*600*1400mm 1000*600*1400mm 1200*720*1600mm 1200*720*1600mm
机身重量 100kg 100kg 100kg 120kg 200kg
工作台底座工作台铸铁采用天然失效处理，配合瑞士进口SCHNEEBERGER导轨
最大工件高度 170mm
轮廓照明高亮度LED照明
表面照明同轴光照明，环形LED照明
电源 110V-240V