3D测量激光显微镜4100:OLS4500 纳米检测显微镜

更新时间：2026-05-21 20:20:51

3D测量激光显微镜4100

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型号：OLS4100
品牌：奥林巴斯
奥林巴斯3D 测量激光显微镜广泛应用于不同行业的质量控制、研究和开发过程，它在激光显微领域树立了全新的标准。现在，为满足测量精度不断提高和测量范围日益扩大的需求，奥林巴斯推出了新型产品LEXT OLS4100。该产品不但可以让测量更加快速、简单，而且可以拍摄到更高画质的影像，大大突破了激光显微镜的界限。
OLS4100采用非接触式、无损、快速成像测量。激光扫描显微镜（LSM）采用的是低功率激光，不接触样品。因此，不像基于探针系统的接触式表面粗糙度仪那样存在损坏样品的风险。LSM无需前期的样品准备即可对样品进行测量。而且，将样品放置在载物台上之后，即可直接开始成像。LSM 采用更大数值孔径的物镜，和更小波长的光波，极大地提高了平面分辨率。并且通过高精度的激光控制技术，获得更为精确的样品表面形貌。根据拍摄到的图像，LSM 可以进行非常精确的XY 平面亚微米测量。在X,Y方向上LEXT OLS4100 达到了0.12 μm 的平面分辨率。LSM 采用短波长半导体激光和独有的双共焦光学系统，会删除未聚焦区域的信号，只将聚焦范围内的反射光检测为同一高度。同时结合高精度的光栅读取能力，可以生成高画质的影像，实现精确的3D测量。使得LEXT OLS4100 在Z方向上达到了10 nm的高度分辨率。OLS4500 纳米检测显微镜DHM（数字全息显微镜） Alpha300-RAMAN：共焦拉曼光谱仪Alpha300-SNOM:近场光学显微镜 alpha300 –AFM:原子力显微镜大面积共焦测量显微镜

OLS4500 纳米检测显微镜

型号：OLS4500
品牌：奥林巴斯
OLYMPUS LEXT OLS4500是结合了传统光学显微镜、激光扫描显微镜（LSM）以及探针扫描显微镜（SPM）功能的一体机。LEXT OLS4500可以满足不同样品的观测需求，是一台新时代的观察、测量装置。
LEXT OLS4500可以轻松实现从毫米到纳米的观察和测量，放大倍率由几十倍到高达百万倍。找到观测目标（观察对象）后，您可以在光学显微镜模式、激光显微镜模式和探针显微镜模式之间自由切换，而不用担心目标丢失。并且您可以使用探针显微镜迅速而正确的完成观察，大大缩短了获取影像的时间。这些便是OLS4500一体机的自由操作带给您的益处。更加方便、更加顺利地完成超大范围观察和测量。实现了自由切换操作的LEXT OLS4500。

光学显微镜是从样品上方照射可见光（波长约400 nm到800 nm），利用其反射光成像，能够放大样品数十倍到一千倍左右进行观察。光学显微镜的特长是可以真实观察彩色样品，还可以切换观察方法，强调样品表面的凹凸，利用物质的特性（偏光性）进行观察。OLS4500上可以使用：明视场观察，微分干涉观察，简易偏振光观察。
LEXT OLS4500采用405 nm的短波长半导体激光、高数值孔径的专用物镜、以及独特的共焦光学系统，可以达到0.12 μm的平面分辨率。此外，OLS4500配有奥林巴斯独有的扫描加扫描型2D扫描仪，可以实现高达4096×4096像素的高精度XY扫描。
OLS4500上采用了光杠杆法——通过高灵敏度检测出最前端装有探针的微悬臂的微小弯曲量（位移）来进行观测的方法。在悬臂的背面反射激光，并用压电元件驱动Z轴，使激光照射到光电检测器的指定位置，从而正确读取Z方向的微小位移。OLS4500配有：接触模式，动态模式，相位模式，电流模式，表面电位模式（KFM），磁力模式（MFM）。