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产品型号： | OLS4100 |
| 产品品牌： | 奥林巴斯 | |
| 产品价格： | 面议 | |
| 所 在 地： | 上海 虹口区 | |
| 发布日期： | 2014-04-19 | |
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详细说明
奥林巴斯3D 测量激光显微镜广泛应用于不同行业的质量控制、研究和开发过程，它在激光显微领域树立了全新的标准。现在，为满足测量精度不断提高和测量范围日益扩大的需求，奥林巴斯推出了新型产品LEXT OLS4100。该产品不但可以让测量更加快速、简单，而且可以拍摄到更高画质的影像，大大突破了激光显微镜的界限。
OLS4100采用非接触式、无损、快速成像测量。激光扫描显微镜（LSM）采用的是低功率激光，不接触样品。因此，不像基于探针系统的接触式表面粗糙度仪那样存在损坏样品的风险。LSM无需前期的样品准备即可对样品进行测量。而且，将样品放置在载物台上之后，即可直接开始成像。LSM 采用更大数值孔径的物镜，和更小波长的光波，极大地提高了平面分辨率。并且通过高精度的激光控制技术，获得更为精确的样品表面形貌。根据拍摄到的图像，LSM 可以进行非常精确的XY 平面亚微米测量。在X,Y方向上LEXT OLS4100 达到了0.12 μm 的平面分辨率。LSM 采用短波长半导体激光和独有的双共焦光学系统，会删除未聚焦区域的信号，只将聚焦范围内的反射光检测为同一高度。同时结合高精度的光栅读取能力，可以生成高画质的影像，实现精确的3D测量。使得LEXT OLS4100 在Z方向上达到了10 nm的高度分辨率。