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FISCHER菲希尔涂层测厚仪XDL230 商:Dektak150台阶仪光学轮廓仪价格用途

更新时间:2026-05-10 04:30:04

FISCHER菲希尔涂层测厚仪XDL230 供应商


访问量:758
型号:XDL230
品牌:菲希尔
FISCHER菲希尔涂镀层测厚仪 华东总代理 技术规格 测量项目 用途 详细说明:
上海涌明自动化专业代理—苏州 无锡 常州 镇江 南京 徐州 扬州 宿迁 泰州
1、FISCHERSCOPE® X射线测试仪有全系列的X-射线供应。
所有的设备遵循ASTM B568, DIN 50 987和 ISO 3497等国家和国际标准。 HELMUT FISCHER制造用于镀层厚度测量和材料分析的X射线荧光系统有超过17年的经验。通过对所有相关过程包括X射线荧光测量法的精确处理和使用了最新的软件和硬件技术,FISCHER公司的X射线仪器具有其独特的特点。
独一无二的WinFTM®(版本3(V.3)或版本6(V.6))软件是仪器的核心。它可以使仪器在没有标准片校准并保证一定测量精度的情况下测量复杂的镀层系统,同时可以对包含多达24种元素的材料进行分析(使用WinFTM® V.6软件)
典型的应用范围如下:
单一镀层:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。
二元合金层:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。
三元合金层:例如Ni上的AuCdCu合金。
双镀层:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。
双镀层,其中一个镀层为合金层:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。
最多24种镀层(使用WinFTM® V.6软件)。
分析多达4种(或24种-使用V.6软件)元素。
分析电镀溶液中的金属离子浓度。X射线测试仪
XUL(M)® XDL® XDLM®-C4 XDVM®-µ X-RAY 4000 X-RAY 5000
测量方向
从下往上 从上往下 从上往下 从上往下 any any
X-射线管型号
W: 钨管 MW: 微聚焦钨管
W埥 MW
W
MW
MW
W 埥 MW
W 埥 MW
Detector
Proportional counter (PC)
Solid state detector (SD)
PC PC PC SD PC or SD PC or SD
开槽的测量箱体
接收器(Co)
可选择的 WM-版本
数准器数目
W-类型: 1
WM-类型: 4 1 4 1 2 1

z-轴

无 无,或电机驱动或可编程的 电机驱动的或可编程的 可编程的 adjustable

测量台类型
固定台面或可选的手动XY工作台
固定台面或手动XY工作台或可编程的XY工作台手动XY工作台或可编程的XY工作台可编程的XY工作台
strip guide
测试点的放大倍率
38 - 184 x 20 - 180 x 20 - 180 x 30 - 1108 x 38 - 184 x
DCM方法
(距离控制测量)
2、便携式仪器-磁感应测试法
单镀层
无损测试
铁磁性材料上的非磁性镀层
钢上的油漆,瓷漆或塑料层
3、手提式仪器-涡流法
单镀层
无损测试
非铁金属上油漆/阳极化/瓷漆或塑料涂层
铝上的阳极氧化层
4、手提式仪器-两用
单镀层
无损测试
两种测试方法
测量铁和非铁金属上的涂镀层
5、手提式仪器-特殊应用
线路板上铜孔厚度
钢上的镍,铜或锌层
道路混凝土厚度
6、COULOSCOPE® CMS及CMS STEP-库仑测试法
单镀层
多镀层系统
破坏性测试
Couloscope CMS(库仑测量系统)采用库仑法测量厚度。仪器包含一个大而直观的液晶显示屏和菜单驱动的操作系统。V18测量台可以自动通过泵来充满或排空测量室的液体。另外仪器还具备SPC功能。该系统是测量金属或非金属底材上的任意金属镀层(包括多个镀层)的理想仪器。它用于那些不能或不需要使用无损测量法的场合。
7、FISCHERSCOPE® MMS®系列 多功能测试仪
MMS®仪器使用不同的探头和测试模块,可以实现不同的测试方法。FISCHERSCOPE® MMS®系列仪器是通用的涂镀层和材料特性测量系统。模块化设计使使用者可以组合和配置不同的测试方法,这样实际上就可以测量任意的涂层/镀层组合。MMS®系统可以配置多种Fischer智慧型探头,这样,使用者就可以下列测试方法中的一种或其组合实现无损测量:磁感应法,涡流法,BETA散射法,霍耳效应或电阻法。
由于其具备多种不同的测试方法,MMS®系列广泛应用于多种场合:
电镀车间,
线路板生产过程,
汽车厂,
航天机械厂,等等。
.
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Dektak150台阶仪光学轮廓仪价格用途


型号:Dektak150
品牌:维易科
Dektak 150 台阶仪 光学轮廓仪 价格 用途 技术参数 总代理 详细说明:
Dektak 150 台阶仪
集40多年的探针轮廓技术创新于一身,该系统在行业内的表现遥遥领先,以重现性最佳和标准扫描范围最大而著称。它提供各种各样的配置和附加选项,用于程序化测量、低探针力表征和细节分析

台阶仪Dektak 150 表面轮廓仪(探针式)
规格:
测试技术:探针轮廓技术
测试功能:二维表面轮廓测试
样品视场:640*480像素,USB;17 inc 平板显示器
探针传感器:低惯量传感器(LIS 3)
探针压力:使用LIS 3传感器:1至15 mg
使用N-lite传感器:0.03至15 mg
探针选项:探针曲率半径可选范围:50 nm至25 um;
高径比针尖:10 um * 2 um 和200 um*20 um
样品载物台:手动X/Y/@:100*100 mm, 360度旋转,可手动校平;
可选Y自动移动载物台,100 mm行程,1um重现性,0.5 um分辨率;
可选X-Y自动移动载物台,150 mm行程;
1um重现率,0.5 um 分辨率
计算机系统:主机使用celeron或者semprom处理器
软件:Dektak软件
台阶检测软件
可选应力测量软件
可选三维Vision分析软件
可选缝合软件
减震装置:可选桌式震动隔离装置
可选台式震动隔离装置
性能
扫描长度范围 55mm(2.1英寸)
每次扫描数据点最多12万数据点
最大样品厚度高达90 mm (4英寸),取决于配置
最大晶圆尺寸 150 mm(6英寸)
台阶高度重现性 6埃
垂直范围:标准524um(0.02英寸);可选1mm
垂直分辨率:最大1A(6.55um垂直范围下)
尺寸:292 mm *508 mm*527 mm
重量:34 kg
电源要求:
输入电压: 100-120VAC/200-240VAC, 50-60 HZ

无论是用于科学研究还是工业生产,Dektak 150探针式表面轮廓仪都具有业内最好的表现性能,最高的测量重复性以及最大的扫描范围。Dektak 150集四十多年的技术积累和创新于一身,为满足用户不同应用方向的需要提供了多种可选配置。坚固的铝质材料铸成的机身框架以及支撑部件显著提高了仪器的重复精度,并降低了地板噪音对测量的干扰。基于Windows®XP的软件用户界面,使用户迅速掌握Dektak 150。分析功能齐全,界面直观,包括从简便的一键"进针即测量",到多次扫描结果的自动分析。通过选配三维成像附件套装还可以极大地扩充仪器的功能。

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