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ITO薄膜厚度检测仪:ITO薄膜厚度检测仪器

更新时间:2026-05-07 02:10:16

ITO薄膜厚度检测仪


访问量:545
型号:CHY-CA
品牌:Labthink兰光
ITO薄膜是一种n型半导体材料,具有高的导电率、高的可见光透过率、高的机械硬度和良好的化学稳定性。它是液晶显示器(LCD)、等离子显示器(PDP)、电致发光显示器(EL/OLED)、触摸屏(TouchPanel)、太阳能电池以及其他电子仪表的透明电极最常用的薄膜材料。ITO薄膜是一种很薄的金属薄膜,在透明导电薄膜方面得到普遍的应用,具有广阔的前景。但薄膜的厚度是否均匀直接关系到企业的生产成本控制,所以对ITO薄膜厚度的高精度测量,是企业必须重视的检测项目之一。

Labthink兰光研发生产的CHY-CA测厚仪,采用机械接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。设备分辨率高达0.1微米,配置的自动进样系统,使用户可自行设置进样步距、测量点数和进样速度,大大提高了薄膜厚度测试效率。

ITO薄膜厚度检测仪技术特征:
测试范围:0~2mm(常规);0~6mm;12mm(可选)
分辨率:0.1μm
测量速度:10 次/min (可调)
测试压力:17.5±1 KPa(薄膜);50±1 KPa(纸张)
接触面积:50 mm2(薄膜);200 mm2(纸张)
注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制
进样步距:0~1000 mm
进样速度:0.1~99.9 mm/s

以上【ITO薄膜厚度检测仪】信息由济南兰光机电技术有限公司发布,如欲了解更详细信息,欢迎致电0531-85068566垂询!
ITO薄膜厚度检测仪器ITO薄膜透光率雾度测试仪 ITO薄膜透光率雾度仪旋光仪检定装置 HP8591E/hp8591e/8591E频谱分析仪供应HP8591EM-频谱分析仪-HP8591EM

ITO薄膜厚度检测仪器


型号:CHY-CA
品牌:Labthink兰光
ITO薄膜是一种n型半导体材料,具有高的导电率、高的可见光透过率、高的机械硬度和良好的化学稳定性。它是液晶显示器(LCD)、等离子显示器(PDP)、电致发光显示器(EL/OLED)、触摸屏(TouchPanel)、太阳能电池以及其他电子仪表的透明电极最常用的薄膜材料。ITO薄膜是一种很薄的金属薄膜,在透明导电薄膜方面得到普遍的应用,具有广阔的前景。但薄膜的厚度是否均匀直接关系到企业的生产成本控制,所以对ITO薄膜厚度的高精度测量,是企业必须重视的检测项目之一。

Labthink兰光研发生产的CHY-CA测厚仪,采用机械接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。设备分辨率高达0.1微米,配置的自动进样系统,使用户可自行设置进样步距、测量点数和进样速度,大大提高了薄膜厚度测试效率。

ITO薄膜厚度检测仪器技术特征:
测试范围:0~2mm(常规);0~6mm;12mm(可选)
分辨率:0.1μm
测量速度:10 次/min (可调)
测试压力:17.5±1 KPa(薄膜);50±1 KPa(纸张)
接触面积:50 mm2(薄膜);200 mm2(纸张)
注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制
进样步距:0~1000 mm
进样速度:0.1~99.9 mm/s

以上【ITO薄膜厚度检测仪器】信息由济南兰光机电技术有限公司发布,如欲了解更详细信息,欢迎致电0531-85068566垂询!
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