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    产品介绍

ITO薄膜厚度检测仪器


ITO薄膜厚度检测仪器
产品型号: CHY-CA
产品品牌: Labthink兰光
产品价格: 面议
所 在 地: 山东 济南市
发布日期: 2017-08-28

详细说明

ITO薄膜是一种n型半导体材料,具有高的导电率、高的可见光透过率、高的机械硬度和良好的化学稳定性。它是液晶显示器(LCD)、等离子显示器(PDP)、电致发光显示器(EL/OLED)、触摸屏(TouchPanel)、太阳能电池以及其他电子仪表的透明电极最常用的薄膜材料。ITO薄膜是一种很薄的金属薄膜,在透明导电薄膜方面得到普遍的应用,具有广阔的前景。但薄膜的厚度是否均匀直接关系到企业的生产成本控制,所以对ITO薄膜厚度的高精度测量,是企业必须重视的检测项目之一。

Labthink兰光研发生产的CHY-CA测厚仪,采用机械接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。设备分辨率高达0.1微米,配置的自动进样系统,使用户可自行设置进样步距、测量点数和进样速度,大大提高了薄膜厚度测试效率。

ITO薄膜厚度检测仪器技术特征:
测试范围:0~2mm(常规);0~6mm;12mm(可选) 
分辨率:0.1μm 
测量速度:10 次/min (可调) 
测试压力:17.5±1 KPa(薄膜);50±1 KPa(纸张) 
接触面积:50 mm2(薄膜);200 mm2(纸张)
      注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制 
进样步距:0~1000 mm 
进样速度:0.1~99.9 mm/s 

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