HP8591C价格HP8591CHP8591C批发:ITO薄膜厚度检测仪

更新时间：2026-11-06 10:34:42

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长期供应/回收HP8591C频谱分析仪
　　Agilent 8591C 有线电视分析仪是坚固、经济的仪器，可提供专门的无干扰射频和视频测量。单键测量可用于灵活的查错，或自动测试整个系统。其灵活的硬件和软件设计使您能容易地升级仪器，以适应所需要的测量。为提高灵活性，NTSC为标准制式，并具有适应世界范围PAL和SECAM制式和频率规划的选件。
　　
　　20 ms RF 扫描时间
　　±1.5 dB 频率响应精度
　　单键FCC 批准的CATV 性能测量
　　坚固、便携式、防水的机箱
　　包括黄色的仪器保护袋
　　30 分钟预热
　　内装前置放大器输入：＞75Ω，BNC频率范围：5～1002MHz（信道模式）；54～896MHz（系统模式）；1MHz～1.8GHz（频谱分析仪模式）幅度范围：-15～+70dBmV（S/N＞30dB）显示的平均噪声电平：（1kHz RBW，0dB衰减）一般性能信道选择：分析仪对准指定的信道输入：＞75Ω，BNC频率范围：5～1002MHz（信道模式）；54～896MHz（系统模式）；1MHz～1.8GHz（频谱分析仪模式）幅度范围：-15～+70dBmV（S/N＞30dB）显示的平均噪声电平：（1kHz RBW，0dB衰减）无前置放大器：≤-63dBmV（1～1500MHz）有内部前置放大器：≤-83dBmV（1～1000MHz）有外接前置放大器：≤-83dBmV（1～1000MHz）
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ITO薄膜厚度检测仪

ITO薄膜是一种n型半导体材料，具有高的导电率、高的可见光透过率、高的机械硬度和良好的化学稳定性。它是液晶显示器（LCD）、等离子显示器（PDP）、电致发光显示器（EL/OLED）、触摸屏（TouchPanel）、太阳能电池以及其他电子仪表的透明电极最常用的薄膜材料。ITO薄膜是一种很薄的金属薄膜，在透明导电薄膜方面得到普遍的应用，具有广阔的前景。但薄膜的厚度是否均匀直接关系到企业的生产成本控制，所以对ITO薄膜厚度的高精度测量，是企业必须重视的检测项目之一。

Labthink兰光研发生产的CHY-CA测厚仪，采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。设备分辨率高达0.1微米，配置的自动进样系统，使用户可自行设置进样步距、测量点数和进样速度，大大提高了薄膜厚度测试效率。

ITO薄膜厚度检测仪技术特征：
测试范围：0～2mm（常规）；0～6mm；12mm（可选）
分辨率：0.1μm
测量速度：10 次/min （可调）
测试压力：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张）
接触面积：50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张）
注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制
进样步距：0～1000 mm
进样速度：0.1～99.9 mm/s

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