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HemiView数字植物冠层分析系统:SunScan冠层分析系统 |
更新时间：2026-01-17 15:53:05 |
HemiView数字植物冠层分析系统访问量：433 型号：HemiView 品牌： HemiView数字植物冠层分析系统 用途：通过处理影像数据文件来获取与冠层结构有关的，例如叶面积指数、光照间隙及间隙分布状况。通过分析辐射数据的相关信息，能够测算出冠层截获的PAR以及冠层下方的辐射水平。其软件可以计算辐射指标、冠层指标、测量地点的光线覆盖状况及直射与漫射光的分布等. 详情请点击：http://www.qudaotech.com/Item/Show.asp?m=111&d=17SunScan冠层分析系统WAW-C微机控制电液伺服液压万能试验机 WET-2土壤水分温度电导率自动监测系统YAW-2000全自动压力试验机 Gro Point墒情监测系统YAW-2000Y 微机控制电液伺服压力试验机 |
SunScan冠层分析系统型号：SunScan 品牌： SunScan冠层分析系统 用途：SunScan是一款简便的测量和分析冠层中入射和透射光合有效辐射（PAR）的系统，提供了关于影响田间作物生长的限制因素的有价值的信息，如叶面积指数（LAI）。SunScan不需要等待特殊的天气条件进行使用，可以在大多数光照条件下进行测量工作（但是最好是在接近中午的时候）。 特点： ·在植物冠层中测量入射和投射光量子（PAR）； ·直接显示叶面积指数 详情请点击：http://www.qudaotech.com/Item/Show.asp?m=111&d=3 |
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