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产品型号： | HemiView |
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| 产品价格： | 面议 | |
| 所 在 地： | 北京 海淀区 | |
| 发布日期： | 2012-02-14 | |
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详细说明
HemiView数字植物冠层分析系统
用途：通过处理影像数据文件来获取与冠层结构有关的，例如叶面积指数、光照间隙及间隙分布状况。通过分析辐射数据的相关信息，能够测算出冠层截获的PAR以及冠层下方的辐射水平。其软件可以计算辐射指标、冠层指标、测量地点的光线覆盖状况及直射与漫射光的分布等. 详情请点击：http://www.qudaotech.com/Item/Show.asp?m=111&d=17