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薄膜厚度测量仪ST2000-DLXn:便携式通讯协议分析仪LE-7200

更新时间:2026-08-24 07:42:24

供应薄膜厚度测量仪ST2000-DLXn


访问量:1010
型号:ST2000-DLXn
品牌:K-MAC
技术参数 活动范围 150 x 120mm(70 x 50mm 移动距离)
测量范围 200Å~ 35㎛(根据膜的类型)
光斑尺寸 20㎛ 典型值
测量速度 1~2 sec./site
应用领域 聚合体: PVA, PET, PP, PR ...

电解质: SiO2 ,TiO2 , ITO , ZrO2 , Si3N4 ..

半导体: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS...

选择 参考样品(K-MAC or KRISS or NIST)
探头类型 三目探头
nosepiece Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt
照明类型 12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer
主要特点 尺寸 190 x 265 x 316 mm
重量 12Kg
类型 手动的
测量样本大小 ≤ 4"
测量方法 非接触式
测量原理 反射计
特征 测量迅速,操作简单

非接触式,非破坏方式

优秀的重复性和再现性

用户易操作界面

每个影像打印和数据保存功能

可测量多达3层

可背面反射
便携式通讯协议分析仪LE-7200供应频率响应分析仪1250/1255 供应宽频带数字锁相放大器7280供应电脑控制振动试验台、水平振动试验台、垂直振动试验台 供应包装跌落台、跌落实验机、手机跌落测试机供应双翼跌落试验台、双臂跌落试验机 、跌落台

便携式通讯协议分析仪LE-7200


型号:LE-7200
品牌:LINEEYE
技术参数 本产品为配备了在线监听功能、仿真功能、比特误码率测试功能的小型电池驱动多种通信协议分析仪。支持最快4Mbps的数据速率并且可以长时间记录。
Mega Speed 测试
本产品可以以最快4Mbps(半双工)和2.048Mbps(全双工)的速度进行测试分析。由于搭载了高精度DPLL线路,支持4位有效数字下随意设定通信速率。

Multi Protocol 支持
默认支持多种数据规格
配备了RS-232C(V.24)和RS-422/RS-485(RS-530)的测试接口。使用专用接线,可以支持X.20/21、RS-499和V.35等规格。
使用插件使用途更加广泛
通过交换分析端口可以支持不同硬件配置的通信规格

AUTO SAVE 长时间保存

逻辑分析功能

PC LINK 电脑连动

在线监听功能

仿真功能

BERT(比特误码率测试)功能

简单易用的菜单方式
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