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薄膜厚度测量仪ST2000-DLXn:便携式通讯协议分析仪LE-7200 |
更新时间：2026-11-01 03:52:14 |
供应薄膜厚度测量仪ST2000-DLXn技术参数 活动范围 150 x 120mm(70 x 50mm 移动距离) 测量范围 200Å~ 35㎛(根据膜的类型) 光斑尺寸 20㎛ 典型值 测量速度 1~2 sec./site 应用领域 聚合体: PVA, PET, PP, PR ... 电解质: SiO2 ,TiO2 , ITO , ZrO2 , Si3N4 .. 半导体: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS... 选择 参考样品(K-MAC or KRISS or NIST) 探头类型 三目探头 nosepiece Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt 照明类型 12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer 主要特点 尺寸 190 x 265 x 316 mm 重量 12Kg 类型 手动的 测量样本大小 ≤ 4" 测量方法 非接触式 测量原理 反射计 特征 测量迅速，操作简单 非接触式，非破坏方式 优秀的重复性和再现性 用户易操作界面 每个影像打印和数据保存功能 可测量多达3层 可背面反射 便携式通讯协议分析仪LE-7200供应频率响应分析仪1250/1255 供应宽频带数字锁相放大器7280供应电脑控制振动试验台、水平振动试验台、垂直振动试验台 供应包装跌落台、跌落实验机、手机跌落测试机供应双翼跌落试验台、双臂跌落试验机 、跌落台 |
便携式通讯协议分析仪LE-7200技术参数 本产品为配备了在线监听功能、仿真功能、比特误码率测试功能的小型电池驱动多种通信协议分析仪。支持最快4Mbps的数据速率并且可以长时间记录。 Mega Speed 测试 本产品可以以最快4Mbps（半双工）和2.048Mbps（全双工）的速度进行测试分析。由于搭载了高精度DPLL线路，支持4位有效数字下随意设定通信速率。 Multi Protocol 支持 默认支持多种数据规格 配备了RS-232C（V.24）和RS-422/RS-485（RS-530）的测试接口。使用专用接线，可以支持X.20/21、RS-499和V.35等规格。 使用插件使用途更加广泛 通过交换分析端口可以支持不同硬件配置的通信规格 AUTO SAVE 长时间保存 逻辑分析功能 PC LINK 电脑连动 在线监听功能 仿真功能 BERT（比特误码率测试）功能 简单易用的菜单方式 |
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