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产品型号： | ST2000-DLXn |
| 产品品牌： | K-MAC | |
| 产品价格： | 面议 | |
| 所 在 地： | 北京 朝阳区 | |
| 发布日期： | 2012-04-26 | |
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详细说明
技术参数 活动范围 150 x 120mm(70 x 50mm 移动距离)
测量范围 200Å~ 35㎛(根据膜的类型)
光斑尺寸 20㎛ 典型值
测量速度 1~2 sec./site
应用领域 聚合体: PVA, PET, PP, PR ...
电解质: SiO2 ,TiO2 , ITO , ZrO2 , Si3N4 ..
半导体: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS...
选择 参考样品(K-MAC or KRISS or NIST)
探头类型 三目探头
nosepiece Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt
照明类型 12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer
主要特点 尺寸 190 x 265 x 316 mm
重量 12Kg
类型 手动的
测量样本大小 ≤ 4"
测量方法 非接触式
测量原理 反射计
特征 测量迅速，操作简单
非接触式，非破坏方式
优秀的重复性和再现性
用户易操作界面
每个影像打印和数据保存功能
可测量多达3层
可背面反射