博士能望远镜(博士能望远镜怎么样)
博士能望远镜 H20系列 10x42铝合金机身
产品型号:15-0142产品规格:10x42mm对焦方式:中心调焦棱镜结构:Roof棱镜玻璃:BaK-4视野(米@1000米):102m最近对焦距离:3.6m出瞳直径:4.2mm出瞳距离:17mm重量:708.5g旋升式眼罩内部充氮防水防雾质量保修:2年原厂出口包装彩色纸盒附件有说明书、随身背包、吊带和擦镜布。倍数真实,高清晰度光学素质镜身铝合金,外覆特殊橡胶,镜包。
博士能望远镜测距仪品牌好用吗
产品详细介绍产品详细参数:测距范围5-1760码高反射性目标1760码树1300码鹿700码旗杆600码测距精度+/-1码观察放大倍数7倍物镜直径26mm尺寸43x129x94毫米电池类型3V(CR123A锂电池1节)重量284克是否带ARC否特殊工作模式1BullsEye模式特殊工作模式2Brush模式,扫描模式博士能205107产品参数测距范围:5-1760码测距精度:+/-1码高反射性目标:1760码树:1300码特殊工作模式1:BullsEye模式特殊工作模式2:Brush模式,扫描模式是否带ARC:否观察放大倍数:7倍物镜直径:26mm尺寸:43x129x94毫米电池类型:3V(CR123A锂电池1节)重量:284克最长距离,最高精度的激光测距仪博士能第三代高精度激光测距仪于2012年8月面市,包括型号有博
进口UPVC塑料电磁阀|UPVC工程塑料电磁阀
进口UPVC塑料电磁阀品牌:德国沃德WODE关键词:UPVC塑料防腐电磁阀|塑料UPVC耐腐蚀电磁阀|UPVC工程塑料电磁阀进口UPVC塑料电磁阀材料简介:UPVC又称硬PVC,是氯乙烯单体经聚合反应而制成的无定形热塑性树脂加一定的添加剂组成,有较强的的力学性能,耐磨,难燃,介电性能良好,具有优良的耐腐蚀性能,可适应一般性的腐蚀性流体。适宜饮用水、各类未经处理的污水、雨水、海水及弱酸、盐碱溶液等。流体与金属隔绝防腐;无易损膜片耐用;创新技术零泄漏安全;大流量用得好;超大先导孔防颗粒杂质堵塞好用;可用3~5年。进口UPVC塑料电磁阀产品特点:1、流体与金属部件(动铁芯、弹簧)完全隔绝,实现了结构上真正的耐
供应仓鼠核因子κB受体活化因子配基(RANKL)ELISA试
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布莱迪40 轴向一般压力表Y-040.ZK.204
产品特性:●轴向卡子安装结构●有机玻璃旋紧式罩壳设计●铁喷黑塑外壳、铜内机●2.5%精度等级●测量范围:0-0.1MPa~0-6MPa●NPT1/8螺纹连接CHARACTERISTICS●Backclampmounting●Organicglass,screwtype●Ironcasewithplasticpainted,brassinternals●Accuracy2.5%●Range:0-0.1MPa~0-6MPa●NPT1/8connection几何尺寸DIMENSIONS单位Unit(mm)仪表型号标示Typescode:Y-040.ZK.204(Y-40AZK7)
HP8594E频谱分析仪
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JTDSI2300红外测温仪可以代仪器校准证书
JTDSI2300红外测温仪本仪器可以代仪器校准证书1介绍:感谢您选择JTD红外测温仪。JTD红外测温仪的工作原理是根据物体的红外辐射强度计算出物体的表面温度。JTD红外测温仪的最大特点是无需接触即可测量物体的温度。因此,它可以方便地测量难以接近或移动的目标温度。JTD红外测温仪提供三线制4-20mA电流输出,可以方便地安装在多种应用场合,特别适合于需要长距离、较强干扰的工业环境的安装。全系列的JTD红外测温仪提供多种温度范围,不同的测量波长,不同的光学系数供用户选择,满足用户不同的测量要求。JTD红外测温仪具备现场发she率调节功能,方便用户针对不同的被测目标进行现场修正,提高测量结果的有效性,真
供应天津测厚仪TT340
一、产品概述原理:超声波测厚仪根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头,通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量,如金属类、塑料类、陶瓷类、玻璃类。可以对各种板材和加工零件作精确测量,另一重要方面是可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测,监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。 TT340超声波测厚仪配备了TSTU32铸铁探头,可以测量灰铸铁、PE材料、尼龙材料等晶粒粗大
原子力显微镜 原(veeco)
扫描速度的全新诠释,拥有最高的扫描分辨率,最优异的仪器检测性能DimensionFastScanTM原子力显微镜(AtomicForceMicroscope,AFM),在不损失Dimension®Icon®超高的分辨率和卓越的仪器性能前提下,最大限度的提高了成像速度。这项突破性的技术创新,从根本上解决了AFM成像速度慢的难题,大大缩短了各技术水平的AFM用户获得数据的时间。为满足AFM使用者对提高AFM使用效率的需求,Bruker开发了这套快速扫描系统,不降低分辨力,不增加设备复杂性,不影响仪器操作成本的前提下,帮助用户实现了利用Dimension快速扫描系统,即时快速得到高分辨高质量AFM图像的愿望。当您对样品进行扫描时,无论设置实验参数
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