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FT-MTA02微纳力学测试及操纵系统

产品型号: FT-MTA02
产品品牌: Femto Tools
当前价格: 面议
最小起订: 不限台
供货总量: 不限
所 在 地: 上海 徐汇区
发布时间: 2017-04-24 09:42
查看更多 表面物性测试 供应信息
上海纳腾仪器有限公司
联系人:王晟 先生((经理))
电话:021-64283335
手机:13501903943
传真:021-64283339
地址:上海宛平南路909弄14号
邮编:200032
网址:http://www.fd17.com/shnti/
E-mail:admin@shnti.com
详细信息  

 
FT-MTA02是一款集微纳力学测试、微纳机械性能测试、微纳三维操纵及组装于一身的微机器人系统。高分辨力传感探针配合高精度三维移动台能直接且同时精确测得5nN~100mN范围内的微力及1nm~26mm范围内的微位移。带有力传感的微钳能对于0~100um的物体进行拾取、移动、拉伸等操纵或组装。得益于模块化的设计,FT-MTA02能和许多仪器进行联用,例如:探针台、各类光学显微镜、工业产线集成等。非常适合于MEMS、材料、生物等领域的微纳力学测试及操纵等研究。

FT-MTA02微纳力学测试及操纵系统
微力及微位移同步测量、微米/亚微米尺度的组装及操纵




                                                                                                                                                                                                                                                                           





一目了然,极简安装——无需任何复杂的布线与冗长的设置
力传感探针/微钳、机械臂、三维移动台(1nm~26mm)、控制箱




                                                                                                                                                                                                                                                                          




FT-S力传感探针、FT-G力传感微钳,超高精度且量程丰富
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让你的FT-MTA02更好用——量身定制的光学显微平台
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模块化设计——与各类仪器联用进行协同测试
           探针台(力学-电学)                         倒置光学显微镜 (液体环境)                            正置光学显微镜               
 



                                                                                                                                                                                                                                                                           



一台仪器,精彩重重——丰富的应用成果
MEMS                                  材料力学                                  生物力学                                  微纳操纵




                                                                                                                                                                                                                                                                           



测试过程中同时记录微力、微位移及时间并将数据进行拟合
斜率即为Stiffness[N/m],并可以进行Stiffness Mapping




                                                                                                                                                                                                                                                                           



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