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冷热冲击试验箱

放大图片	产品型号：	D/CJ-500(可定做）
	产品品牌：	上海典和
	当前价格：	面议
	最小起订：	1
	供货总量：	100
	所在地：	上海奉贤区
	发布时间：	2018-04-03 14:46

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上海典和实验仪器厂

联系人：黄春娥女士((销售))

电话：021-37595828

手机：13402075600

传真：021-57127128

地址：上海市奉贤区浦星公路8801号

邮编：201419

网址：http://www.fd17.com/shdh0517/

E-mail：13402075600@163.com

详细信息

产品说明：
备注：根据需求定做型设备，需要用户提供详细的试件产品尺寸。

1                    工作室尺寸：500×500×500  （深×宽×高）mm
2                    提篮尺寸：180*250*200（深×宽×高）mm
3                    温度上限：+200℃
4                    温度下限：-70℃
5                    温度冲击范围：-40℃+150℃
6                    温度偏差：≤±2℃
7                    温度波动度：≤±1℃
8                    温度恢复时间：≤5min
9                    温度恢复条件：高温+80℃保温≥30min，低温-40℃保温≥30min，
10                试品转移时间≤5秒（冲击时间）
11                低高温互转时间：≤5秒
12                试品转移方式采用气动提篮式转移
13                试品重量：≤10 kg
14                高温室升温时间：25min (常温～+150℃)
15                低温室降温时间：30min (常温～-40℃)
16                噪音：（dB）≤65
17                电源：AC380V/50Hz+保护接地
18                总功率：18.5KW
本设备满足：
Ø        GB/T2423.22-87Na
Ø        GJB_150.1-86_军用设备环境试验方法_总则
Ø        GBT 23682-2009 制冷系统和热泵  软管件、隔震管和膨胀接头  要求、设计与安装
Ø         GB/T2423.1-2008《电工电子产品基本环境试验》  试验A：低温试验方法；
Ø         GB/T2423.2-2008《电工电子产品基本环境试验》  试验B：高温试验方法；
Ø         GB 2423.2-2006（IEC68-2-2）电工电子产品基本环境试验：高温试验方法
Ø         GJB150.3（ML-STD-810D）高温试验方法
Ø         GJB150.4（MIL-STD-810D）低温试验方法
Ø         GJB150.9-1986《军用设备环境试验方法》
Ø         GJB4.5-1983《船舶电子设备环境试验：恒定湿热试验》
Ø         GJB4.6-1983《船舶电子设备环境试验：交变湿热试验》
Ø         GJB367.2-1987《军用通信设备通用技术条件环境试验方法》
Ø         GB/T5170.2-96《温度试验设备》
Ø         GB/T10592-2008《高低温试验箱技术条件》
Ø         GB/T10589-2008《低温试验箱技术条件》
Ø         GB/T11158-2008《高温试验箱技术条件》

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