SDD
1. 仪器用途
用于分析合金成份及牌号鉴定，不仅可以检测常见的不锈钢、中低合金钢、工具钢、铝合金、钛合金、镍合金、钴合金还可以检测诸如 Au, Ag, Pt, Sn, Pb, W, Bi 等一些特殊的合金。
2. 使用方法
仪器操作方便，不需要专门技术人员，只要将仪器测量窗口对准待分析的均质样品，按下测量按钮，2～15 秒及可得到各元素的含量。
3. 数据处理和结果判定：
测量所得到的结果可以储存在随机电脑或通过 USB 转移到其他计算机上，再根据需要进行打印。
4.技术参数表
序号 项目 PS2参数描述
1 X射线光管 W, Ag, Rh阳极靶，最大电压45KV，最大电流100微安。
2 X射线探测器 Si-PIN或SDD高分辨率半导体探测器。
3 滤光片系统 滤光片自动选择系统。
4 测量点射线光斑直径 6毫米。
5 工作环境温度 -10℃到+50℃
6 尺寸 7.8cm(W)x24cm(L)x23cm(H)
7 重量 <1.4Kg 重量包含电池。
8 显示屏及数据处理 内置式，4.3寸彩色背光触摸屏，16G内置内存，能够存贮大于100000个数据及光谱。Win CE图形应用程序界面设计。
9 操作语言 中/英文等多种语言可自由切换。
10 测量模式 基本参数法
11 测量的元素 包括但不限于 Mn, Cr, Ni, Mo, Cu, V, Ti, W, Nb, Zr, Sn, Pb, Bi等
12 电池 可反复充电、多次拔插的Li电池，典型工作情况下单块电池工作时间10-12小时，配有110/230V,50/60HZ直流电源充电器。
13 辐射安全 具有密码保护功能；配有红外感应保护和计数率感应装置。
14 携带及运输 坚固耐用户外型便携箱，符合航空安检条例规范。
15 保修期及认证 标准保修期一年（包括X射线管，消耗品除外） |
