FT-330系列普通四探针方阻电阻率测试仪
按照硅片电阻率测量的国际标准（ASTM F84）及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准，本机配置232电脑接口及USB两种接口，本机采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差，比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量，更加准确.
本仪器本仪器采用四探针单电测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.
规格型号 FT-331 FT-332 FT-333 FT-334 FT-335 FT-336
1.方块电阻范围 10-5～2×105Ω/□ 10-4～2×103Ω/□ 10-3～2×105Ω/□ 10-3～2×103Ω/□ 10-2～2×105Ω/□ 10-2～2×103Ω/□
2.电阻率范围 10-6×106Ω-cm 10-5×104Ω-cm 10-4～2×106Ω-cm 10-4～2×104-cm 10-3～2×106Ω-cm 10-3～2×104-cm
3.测试电流范围 0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA 10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA 0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA 10μA，100μA，1mA，10mA，
100 mA 0.1μA，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA 1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA
4.电流精度 ±0.1%读数 ±0.2%读数 ±0.2%读数 ±0.3%读数 ±0.3%读数 ±0.3%读数
5.电阻精度 ≤0.3% ≤0.3% ≤0.3% ≤0.5% ≤0.5% ≤0.5%
6.显示读数 液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率
7.测试方式 普通单电测量
8.工作电源 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：<30W
9.整机不确定性误差 ≤4%（标准样片结果）
10.选购功能 选购1.pc软件； 选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台
11.测试探头 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格; 探针材质选购：碳化钨针;白钢针；镀金磷铜半球形针
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