用户名: 密码:
会员中心 | 设为首页 | 添加收藏 
仪器仪表信息网    
我要找:
当前位置:首页 > 供应信息 > 通用分析仪器 > 3D测量激光显微镜4100

3D测量激光显微镜4100

产品型号: OLS4100
产品品牌: 奥林巴斯
当前价格: 面议
最小起订: 不限台
供货总量: 不限
所 在 地: 上海 虹口区
发布时间: 2014-04-19 14:45
查看更多 显微镜 供应信息
上海巨纳科技有限公司
联系人:袁文军 先生((经理))
电话:021-61533166
手机:13761090949
传真:021-60852363
地址:上海市虹口区宝山路778号海伦国际501
邮编:200000
网址:http://www.fd17.com/sunano/
E-mail:862013560@qq.com
详细信息  
奥林巴斯3D 测量激光显微镜广泛应用于不同行业的质量控制、研究和开发过程,它在激光显微领域树立了全新的标准。现在,为满足测量精度不断提高和测量范围日益扩大的需求,奥林巴斯推出了新型产品LEXT OLS4100。该产品不但可以让测量更加快速、简单,而且可以拍摄到更高画质的影像,大大突破了激光显微镜的界限。
OLS4100采用非接触式、无损、快速成像测量。激光扫描显微镜(LSM)采用的是低功率激光,不接触样品。因此,不像基于探针系统的接触式表面粗糙度仪那样存在损坏样品的风险。LSM无需前期的样品准备即可对样品进行测量。而且,将样品放置在载物台上之后,即可直接开始成像。LSM 采用更大数值孔径的物镜,和更小波长的光波,极大地提高了平面分辨率。并且通过高精度的激光控制技术,获得更为精确的样品表面形貌。根据拍摄到的图像,LSM 可以进行非常精确的XY 平面亚微米测量。在X,Y方向上LEXT OLS4100 达到了0.12 μm 的平面分辨率。LSM 采用短波长半导体激光和独有的双共焦光学系统,会删除未聚焦区域的信号,只将聚焦范围内的反射光检测为同一高度。同时结合高精度的光栅读取能力,可以生成高画质的影像,实现精确的3D测量。使得LEXT OLS4100 在Z方向上达到了10 nm的高度分辨率。
本企业其他产品   更多>>
       Aw-LAB-HAw-LAB-F传感器EnBSK-7HSM-7测
      主要特点:1.     
      主要特点:1.     
      WITec′s获奖的TrueSurface显微镜可测量倾斜
      简介用于材料研究,生命科学和纳米技术的用户
      简介采用独特的微打孔悬臂近场针尖获得低于衍