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多入射角激光椭偏仪
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产品型号:
产品品牌:
北京纽比特科技有限公司
当前价格:
2000元/台
最小起订:
1台
供货总量:
100
所 在 地:
北京 海淀区
发布时间:
2025-10-26 10:22
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集成电路测试仪
供应信息
北京纽比特科技有限公司
联系人:车小姐 女士((销售经理))
电话:010-82433150
手机:13521743506
传真:010-82433097
地址:清河安宁庄东路18号光华创业园7号309室
邮编:100085
网址:http://www.fd17.com/bjnbet/
E-mail:bjnbet@163.com
详细信息
多入射角激光椭偏仪
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高端研发领域专用的多入射角激光椭偏仪,采用多项专利技术,仪器硬件和软件具有多项定制功能设计,适用于光面或绒面纳米薄膜测量、块状固体参数测量、快速变化的纳米薄膜实时测量等不同的应用场合。 产品特点: 1.高精度、高稳定性 2.一体化集成设计 3.测量简单 4.快速、高精度样品方位对准 5.多角度测量 6.实时测量 7.丰富的材料库及物理模型 8.强大的数据分析和管理功能 应用领域: 可应用于纳米薄膜的几乎所有领域,如微电子、半导体、生命科学、电化学、显示技术、磁介质及金属处理等。可对纳米层构样品的薄膜厚度和折射率n及消光系数k进行快速、高精度、高准确度的测量,尤其适用于科研和工业产品环境中的新品研发及质量监控,可用于表征单层纳米薄膜、多层纳米层构模系,以及块状材料(基底)。
技术指标:
激光波长
632.8nm(He-Ne laser)
膜层厚度精度
0.01nm(对于Si 基底上110nm 的SiO2 膜层
折射率精度
1x10-4 (对于Si 基底上110nm 的SiO2 膜层
光学结构
PSCA
激光光束直径
<1mm
入射角度
40°-90°可选,步进5°
样品方位调整
三维平移调节;±6.5mm(X-Y-Z三轴)
二维俯仰调节:±4°
光学自准直系统对准
样品台尺寸
Φ 170mm
单次测量时间
0.2s
推荐测量范围
0-6000nm
最大外形尺寸(长x宽x高)
887x332x552mm(入射角为90°时
仪器重量(净重)
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