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供应薄膜厚度测量仪ST2000-DLXn

产品型号: ST2000-DLXn
产品品牌: K-MAC
当前价格: 面议
最小起订: 不限台
供货总量: 不限
所 在 地: 北京 朝阳区
发布时间: 2012-04-26 13:46
查看更多 表面物性测试 供应信息
北京三尼阳光科技发展有限公司
联系人:王先生 先生((销售))
电话:10-65202180
手机:
传真:10-65202182
地址:北京市朝阳区东四环中路41号
邮编:100025
网址:http://www.fd17.com/sunnytek/
E-mail:sales@sunnytek.net
详细信息  
技术参数 活动范围 150 x 120mm(70 x 50mm 移动距离) 
测量范围 200Å~ 35㎛(根据膜的类型) 
光斑尺寸 20㎛ 典型值 
测量速度 1~2 sec./site 
应用领域 聚合体: PVA, PET, PP, PR ... 

电解质: SiO2 ,TiO2 , ITO , ZrO2 , Si3N4 .. 

半导体: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS... 

选择 参考样品(K-MAC or KRISS or NIST) 
探头类型 三目探头 
nosepiece Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt 
照明类型 12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer
主要特点 尺寸 190 x 265 x 316 mm 
重量 12Kg 
类型 手动的 
测量样本大小 ≤ 4" 
测量方法 非接触式 
测量原理 反射计 
特征 测量迅速,操作简单 

非接触式,非破坏方式 

优秀的重复性和再现性 

用户易操作界面 

每个影像打印和数据保存功能 

可测量多达3层 

可背面反射
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      技术参数输入输入模式single-ended.耦合50欧
      技术参数电压输入输入噪音@1kHz5nV/√Hz共模
      技术参数输入输入方式单端虚拟接地耦合DC灵敏
      技术参数模式电压单端接地或者差分电流虚拟接
      技术参数输入输入模式pseudo-differential耦
      技术参数本产品为配备了在线监听功能、仿真功