XLE-2型大平台检测显微镜是专为IT行业大面积集成电路，晶片的质量检测而设计开发制造的。主体为：正置式、三目镜筒，比传统的显微镜更适合于观察。上部安装彩色摄像机连接彩色监视器直接观察。可连接计算机打印报告、照片或连接数码相机，照相机直接拍照，还可以直接进行图像记录，并建立技术检测档案，存储、查询，可省去复杂烦琐的摄影，洗印等暗室工作，大大的提高了工作效率。 检测显微镜具有独特的特点： 1）放大倍数：40倍至500倍； 2）超大型载物台，样品可作大范围的纵、横方向快速移动，扩大检测领域的使用范围，适用于电子、冶金、机械、化工、科研、院校等部门，以及金相技术检验，失效分析等。
主要技术参数
1.机械筒长 160mm
2.物镜
放大倍数 数值孔径 有效工作距离（mm） 介质
4× 0.10 17.912 干
10× 0.25 6.544 干
20× 0.40 1.05 干
40× 0.65 0.736 干
3.目镜
放大倍数 焦距 视场直径 备注
10× 25 18
12.5× 25 14 选配
4.放大倍数 40×--400×
5.载物台面积 350mmX255mm
纵向移动范围---200mm
横向移动范围---200mm
6.粗微动调焦范围 25mm,微调转动一圈样品升降0.2mm,格值
0.002mm
7.光源 钨卤素灯6V20W。内藏式连续调光电源
8.物镜转换器 四孔式 (三孔式)
9.目镜筒 三目镜 (双目镜)
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