SC-G型自动考种仪及千粒重仪（玉米考种仪）:SC-E型大米外观品质检测分析仪米质判定仪

更新时间：2026-09-10 21:44:38

SC-G型自动考种仪及千粒重仪（玉米考种仪）

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型号：SC-G型
品牌：万深
SC-G型自动考种及千粒重分析仪（含玉米果穗考种）
1、货物名称：SC-G型自动考种及千粒重分析仪（含玉米果穗考种）

玉米自动考种及千粒重分析仪

所配的各种种粒自动考种及千粒重分析仪

玉米籽粒分析的操作界面（最多可同时分析1000粒左右）

玉米10个果穗同时分析的操作界面

玉米35个截面同时分析的操作界面

2、主要用途：SC-G型自动种子考种分析及千粒重仪系统是根据图像识别原理来实现自动分析的。目标照明模式可在背光和普通日光之间切换。可用于各类农作物实粒种子（谷粒、玉米、小麦、油菜籽等）的精确考种、各类粮库的虫口计数分析，以及出苗数、整齐度、均匀度分析，可兼做表面光滑的昆虫计数或虫卵计数（如：米象、蚜虫、蚕卵、鱼籽等），以及被当作种子净度工作台用于种子净度检验。内置支持网上在线升级的模块。
3、主要性能指标
配A3幅面最高分辨率1600dpi × 1600dpi、紫光M1彩色扫描仪。可分析各类种粒的种粒直径1～20mm。扫描仪分析工作区：A3幅面（431.8mm×304.8 mm）。可同时成像分析10个玉米果穗、35个玉米截面、1000粒左右玉米籽粒。配500万像素分辨率的彩色数码拍摄仪，及超薄的背光光源板（A4幅面），具有图像调整、观察特性。
1）．籽粒数分析速度、精度：
自动数粒速度：1500～3000粒/分钟（玉米籽粒），其它籽粒为1200～20000粒/分钟，数粒误差≤±0.1~0.4%，监视修正即达100%正确。具有相机画面畸变、背光板均匀性的自动矫正特性，有效减小尺寸测量误差。自动测出籽粒数、各籽粒的粒形参数（长、宽、长宽比、面积、等效直径、周长等），以及其平均值，并排序输出。自动千粒重分析的精度误差：≤±0.5%。具有对被分析目标颜色、形状进行自学习和再学习，并实现自动分类的特性，以及品种比对特性。能大批量自动分析成像后的种粒图片。
2）．果穗、截面分析速度、精度：
同时成像分析玉米果穗：10个/次/分钟、玉米截面：35个/次/分钟。自动测出各玉米穗长、穗粗、秃尖长、左右穗缘角、穗行角、平均行粒数、粒厚、截面穗行数、穗粗、轴粗，以及其平均值，可测出各玉米截面上的平均粒长、平均粒宽等参数。
3）．有被测样本条码、电子天平RS232重量数据的自动输入接口，插上电脑条码枪即可刷入样本条码编号；电子天平上的被测样本重量数据可一键送到电脑保存为EXCEL表。
4）．分析过程为全程电脑控制，高效、准确、简便易用，真正一键式操作，鼠标一点，结果即现。
5）．辅助删补：用鼠标选择增加/删除，或直接用鼠标在屏上手工计数，以确保100%正确。目标区的个性化计数：对工作区视野中任选范围或矩形范围内的计数。
6）．分析数据导出：分析图像结果可保存，以及按大小形状排列输出，自动形成总报表，统计分析结果能输出至Excel表，以及，以及按宽度、长度、面积等输出的排列图和测量图。
3. 供货配置表：
SC-G型自动考种及千粒重分析系统数量备注
SC-G型自动考种及千粒重分析软件及《简明手册》 1张光盘，3年免费升级
软件锁 1个 1年保换、2年保修
SC-G型自动考种及千粒重分析系统软件质量三包卡 1张光盘电子文档中
A3幅面的紫光M1彩色扫描仪 1台紫光公司全国联保1年
USB2.0接口的拍摄仪（彩色500万像素） 1台非人为损坏，质保1年
超薄的背光光源板（A4幅面工作台板） 1个非人为损坏，质保1年
带RS232通讯接口的量程220g电子天平（精度1mg） 1台生产厂家联保1年
RS232接口通讯传输线 1条非人为损坏，质保1年
种粒成像盘、种粒收纳小盘各1

4. 推荐电脑配置（需另配，由投标的经销商在当地找供应商）
品牌一体机电脑（酷睿双核CPU / 4.0G内存/1G显存/ 500G硬盘/ 19.5”彩显/无线网卡，5个以上USB2.0口，Windows 7完整专业版或完整旗舰版）
SC-E型大米外观品质检测分析仪米质判定仪英国肖氏SHAW手持式露点仪仪SDHmini-Ex-S SC-X型小麦外观品质分析仪、面粉麸星检测仪英国肖氏手持式SDHmini-Ex-G露点仪英国肖氏在手持式SDHmini-Ex-B供应北斗手持GPS GPSMAP639SC

SC-E型大米外观品质检测分析仪米质判定仪

型号：SC-E型
品牌：万深
SC-E型大米外观品质检测分析仪
1用途：用于各种类大米（精米、糙米、糯米等）各项外观品质指标的精准自动检测，可进行多参数、批量化的自动分析。
2系统组成：双光源扫描成像仪及附件、分析软件和电脑（电脑另配）。
3 主要性能指标：
★配光学分辨率4800×9600、A4加长的双光源彩色扫描仪来成像（中晶 ScanMaker i800 Plus）。透扫幅面30 cm×20 cm，最小像素尺寸0.0053mm ×0.0026 mm。
★可自动一次性测量分析30g以上大米样品的：垩白度/率、碎米率及小碎米率、整精米数量、整精米率、可直接检测大米透明度的国标等级（国家发明专利号ZL 2013 1 0172280.X）、黄粒米、杂质量、异品种粒、不完善粒（未成熟粒），及糯米的阴米率、病斑或黄变率。还可自动分析大米的碾米精度、裂纹率，以及糙米胚芽率。
自动测量每粒的面积、长径、短径、长宽比、圆度、等效直径（长度测量误差≤±0.05mm，长宽比测量误差≤±0.05，重现性误差≤±0.02；整精米率、碎米率指标测量误差≤±1.0%、重现性误差≤±0.25%）。可大批量自动分析处理与输出结果。与国标GB/T1350稻谷、GB/T17891优质稻谷或GB1354大米、农业部新标准【大米】NY/T2334-2013、大米粒型分类判定LS/T6116-2016、粮食行业标准大米LS/T 3247—2017等标准相对应，检测各项指标的质量比和粒数比。各分析图像、分布图、结果数据可保存，分析结果输出至Excel表，可输出分析标记图，以及按宽度、长度、面积等输出的排列图和测量图。
★具有自动学习与识别特性，可自动分割粘连的大米、种粒，可做自动分类分析。
★具有样本条码、电子天平RS232数据软件接口。可兼测的种粒范围0.25-20mm，自动数粒精度≥99%，交互修正后准确率达100%。
4．环境条件：
温度10~30℃，相对湿度≤85%，防止强光照射。仪器应放在平稳工作台上，周围无强烈的机械振动和电磁干扰；电源要求220V±10%，50Hz。

注：本技术标书中打★款项必须响应，否则为重大偏离

选配电脑推荐：品牌一体机电脑（酷睿双核CPU / 4.0G内存/1G显存/ 500G硬盘 / 19.5”彩显/无线网卡，4个以上USB2.0口，Windows完整旗舰版）