R&SIQR IQ 数据记录仪:奥林巴斯45MG

更新时间：2026-09-09 05:03:19

R&SIQR IQ 数据记录仪

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型号：
品牌：
R&SIQR IQ 数据记录仪
产品名称：数据记录仪
产品型号：R&SIQR I/Q
产品展商：北京凡实测控技术有限公司
产品品牌：德国R&S
产品价格：面议
产品简介
R&SIQR是一款用于记录和播放数字I/Q数据流的高速记录仪，当与诸多具有R&SDigital I/Q接口的罗德与施瓦茨仪器一起使用时，R&SIQR可对数据进行实时存储和播放。
主要特点
数字I/Q数据记录和播放的采样率高达87.5 Msample/s 或 350 Mbyte/s
2 × 16 位 I/Q 数据位宽
支持自动增益控制（AGC）
记录和回放两路IQ数据流
便于手动操作的触摸屏
两种型号可满足各种需求：采样率为20 Msample/s的R&SIQR20和采样率为75 Msample/s的R&SIQR100，型号的选择与使用的存储套件有关
采用硬盘驱动器（HDD）的抽取式存储包，便于固定式测量；而采用固态驱动器（SSD）的存储包，适用于更高数据速率和移动式使用
丰富的用于控制记录和播放的内、外触发器模式
数据发生器功能，可生成各种数据流（正弦波、方波）
同步两台IQR：可同时记录、播放频谱数据
可工作于110V到220V AC，或者工作于10V到30V DC
奥林巴斯45MG供应代理Olympus品牌测厚仪38DL PLUS 国外TSA4G1usb微型频谱仪加拿大TSAusb频谱仪的产品特点 UL系列阻移式物位计防爆仪表箱

奥林巴斯45MG供应

型号：45MG
品牌：日本奥林巴斯 Olympus
45MG是一款配置有各种测量功能和软件选项的超声测厚仪。这款独特的仪器与所有Olympus双晶和单晶探头探头兼容，是一款集所有解决方案于一机的创新型仪器，可用于几乎所有测厚应用。手持式45MG是提供测量功能和软件选项的高级小型测厚仪。这个独特的测厚仪兼容奥林巴斯所有的双晶和单晶探头，使这个创新仪器成为了几乎涵盖所有厚度测量应用领域的一站式解决方案。从使用双晶探头测量内部被腐蚀管道的管壁变薄程度，直至使用单晶探头对超薄材料进行非常准确的厚度测量，均可采用45MG。

简便操作的设计理念
可只用右手或左手操作的简洁的键区
可直接访问大多数功能的简便易行的操作界面
使用内置MicroSD存储卡和可插拔MicroSD存储卡的存储方式
USB通讯端口
可存储475000个厚度读数或20000个波形的可选字母数字式数据记录器
默认或自定义单晶探头设置（可选）
密码保护方式的仪器锁定
彩色透反QVGA显示，带有室内和室外颜色设置，具有极佳的清晰度

45MG可选功能
只需几次按键，即可完成从简单腐蚀测厚仪到多功能精确测厚仪的华丽变身。45MG测厚仪提供需密码激活的5个软件选项，从而跻身于工业领域中用途最广泛的测厚仪行列。
回波到回波/穿透涂层：使用回波到回波选项，仪器屏幕上会显示金属的实际厚度，而涂层的厚度会被忽略。穿透涂层选项测量金属厚度与非金属涂层的厚度，这两个厚度都根据它们各自正确的材料声速值得到了调整。因此，在进行厚度测量时，无需去掉材料表面的漆层或涂层。
单晶：这个选项可对很多材料，如：金属、塑料、复合材料、玻璃及陶瓷，进行非常精确的厚度测量。这个选项可与范围在2.25 MHz到30 MHz的单晶Microscan探头相兼容。
单晶高穿透：这个选项可对较厚或衰减性较高的材料，如：玻璃纤维或铸造金属，进行厚度测量。可与范围在0.5 MHz到30 MHz的单晶Microscan探头相兼容。这个选项包含单晶选项。
数据记录器：45MG测厚仪带有一个功能齐全的内置双向字母数字式数据记录器，可方便地存储和传输厚度读数和波形数据。这个选项包含基于Windows的GageView接口程序。
带有波形调整功能的实时A扫描：用户使用这个可选实时A扫描模式，可以在测厚仪的显示屏上直接查看超声波形（或称A扫描），核查厚度测量读数，对增益和空白设置进行手动调整，以在具有挑战性的应用中最大限度地增强测量性能。这个极为有益的选项包含手动增益调整、扩展空白、首个回波空白、范围及延迟参数。

笃挚仪器（上海）有限公司拥有源自美国、英国、德国等多地区的合作伙伴，凭借种类齐全的产品资源和服务，始终努力为客户解决日新月异的测量分析技术挑战，精选测量方法和选择产品，共同提供最适合用户的定制化系统解决方案，有效推动企业实现既定目标。