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安捷伦agilent 惠普HP 8595E频谱分析仪:山东纳米激光粒度检测仪商,认准易仕特

更新时间:2026-09-01 14:02:33

安捷伦agilent 惠普HP 8595E频谱分析仪


访问量:326
型号:8595E
品牌:安捷伦agilent 惠普HP
地址:深圳市宝安三区东江豪苑32楼A1~B1室
联系电话:18320318183 冯小姐

Agilent 8595E是易于使用的RF频谱分析仪,它具有很宽的性能特性范围,可选符合您测量要求的能力。可下载的测量专用件与可选的插卡性能相结合,提供适合您应用的量身定制解决方案。
用支持各种应用,如有线电视/广播、元件测试、电磁兼容性、光波和无线应用的
测量专用件快捷地执行复杂的测试
4 槽的插卡槽
屏幕分割显示
单键测量例程
先进测量功能
双接口
内置迹线发生器
频率范围:9kHz ~6.5GHz(直流耦合);100kHz ~6.5GHz(交流耦合)
频率基准
老化率:±2×10-6/年,±l×l0-7/年(选件004)
温度稳定性:±5×10-6,±l×lO-8(选件004)
初始精度:±0.5× 10-6,±2.2×l0-8(选件004)
频率读出精度(起始处、终止处、中心处、频标处):
±(频率读数×频率基准误差+间隔精度+间隔的1%+RBW的20%+lOO Hz×N)
频标计数精度
间隔≤lOMHz × N:±(频标频率×频率基准误差+计数器分辨率+l00Hz×N)
间隔>lOMHz × N:±(频标频率×频率基准误差+计数器分辨率+lkHz×N)
计数器分辨率
间隔≤lO MHz×N:可在lO Hz ~100 kHz之间选择
间隔>lOMHz×N:可在100 Hz ~10O kHz之间选择
频率间隔
范围:OHz(零扫频间隔)和10 kHz ~6.5GHz;最小间隔为l kHz(选件l30)
分辨率:4位数字或20 Hz ×N,两者中的较大者
精度:间隔≤10MHz × N:间隔的±2%
间隔>l0 MHz×N:间隔的±3%
扫描时间
范围:间隔=0 Hz或>l kHz:20 ms~lOO s
间隔 = O Hz(选件101)20μs~100 s
精度:20 ms~100 s:±3%
20μs~lO kHz:≤-90 dBc/Hz+20 log N
与连续波信号的偏离>20 kHz:≤-lOO dBc/Hz+2O log N
与连续波信号的偏离>30 kHz:≤-l05 dBc/Hz+20 log N
剩余调频:l kHz RBW,l kHz VBW:≤(250×N)Hz pk-pk(lOO ms)
30 Hz RBW,30 Hz VBW:≤30×N)Hz pk-pk(30O ms)
系统相关的边带(与连续披信号的偏离>3OkHz):≤-65dBc+20 log N
梳状发生器频率(8593E,8596E)100MHz基波频率;±0.007%频率精度
幅度
幅度范围:显示的平均噪声电平~+30 dBm
最大安全输入电平(输入衰减器lO dB)
平均连续功率:+30 dBm(l W)
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山东纳米激光粒度检测仪供应商,认准易仕特


型号:
品牌:
山东纳米激光粒度检测仪供应商,认准易仕特
纳米激光粒度检测仪介绍:
纳米激光粒度检测仪(激光粒度仪)基于光子相关光谱技术,以大动态范围高速光子相关器为核心器件,采用本公司在颗粒粒度反演算法上新研究成果,因此具有准确度高、重复性高的特点,它采用高速数字相关器和专业的高性能光电倍增管作为核心器件,具有快速、高分辨率、重复及准确等特点,是纳米颗粒粒度测定的首选产品。【更多激光粒度仪产品信息欢迎致电厦门易仕特仪器有限公司黄工:17750585159】
激光粒度仪测试原理
  山东纳米激光粒度检测仪(激光粒度仪)采用动态光散射原理和光子相关光谱技术,根据颗粒在液体中的布朗运动的速度测定颗粒大小。小颗粒布朗运动速度快,大颗粒布朗运动速度慢,激光照射这些颗粒,不同大小的颗粒将使散射光发生快慢不同的涨落起伏。光子相关光谱法就根据特定方向的光子涨落起伏分析其颗粒大小。因此山东纳米激光粒度检测仪具有原理先进、精度极高的特点,从而保证了测试结果的真实性和有效性;是纳米激颗粒粒度测定的首选仪器。
激光粒度仪性能特点
  1、大动态范围高速光子相关器,实现了1010的动态范围,并保证了相关函数基线的稳定性;
  2、采用反演算法,使测量结果的准确度和重复性均小于1%;
  3、超强的抗噪能力解决了噪声过大对测量结果的影响;
  4、稳定的光路系统保证了光子相关光谱测量系统的稳定性和准确度;
  5、高精度温控系统,使温度控制精度达±0.1℃;
  6、高灵敏度光子探测器对光子信号具有极高的灵敏度和信噪比。光子计数器采用边沿触发模式,瞬间捕捉光子脉冲的变化;
技术指标
纳米激光粒度检测仪技术参数及详细配置
型号 LAP-NM10000
执行标准 GB/T 29022-2012/ISO 22412:2008
测试范围 1-10000nm(与样品有关)
ZETA电位范围 无
分子量范围 无
激光 λ=635nm,普通半导体激光器
浓度范围 0.1ppm—40%w/v (与样品有关)
探测器 HAMAMATSU光电倍增管(PMT),使用单模保偏光纤
相关器 采样时间100ns-50ms,相关通道1024,上限动态范围1010
散射角 90°
样品池 10mm*10mm , 4ml
温度范围 8-60℃(温度精确到0.1℃)
数据处理 拟合累积分析法和改进正规化算法,可给出平均粒径及粒度分布曲线
软件功能 一键式测量,自动优化测量参数,轻松生成测试报表
输出项目 平均粒径、多分散系数、粒度分布曲线、粒度分布表等
测试速度 <5Min/次
外形尺寸 390mm×255mm×240mm(目前体积下限的纳米激光粒度检测仪)
电源 AC100~260V, 50/60Hz, 上限功率80W
使用环境 温度:15~40℃,湿度20~70%。无冷凝
软件功能
  1、一键启动式测量,自动生成测试报表;
  2、自动调整散射光强,无需用户干涉;
3、自动优化光子相关器参数,以适应不同样品;
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