微区X荧光能谱仪M4M6:XRF岩心扫描分析仪

更新时间：2026-08-28 22:05:13

微区X荧光能谱仪M4M6

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型号：M4M6
品牌：布鲁克
微聚焦荧光光谱仪 M6 JETSTREAM
    布鲁克推出了新型微聚焦XRF—M6 JETSTREAM。M6 JETSTREAM是布鲁克针对大样品原位无损分析而开发的新产品。可移动设计使得用户可以随意将M6 JETSTREAM移动到自己感兴趣的样品前进行分析，比如画廊、博物馆或者工作现场。M6 JETSTREAM可以实现800mmx600mm的大面积扫描，微束斑的直径可低至100μm，扫描速度可达100mm/s。

M6 JETSTREAM特色应用领域:
文物分析——能够现场原位分析样品，使用户免去了搬运样品的麻烦，同时避免了在搬运中对文物可能造成的损坏。

地球科学——可分析大钻芯样或者其他矿物样品。

故障分析——可用于大部件样品的缺陷筛查、不均匀性分析，以及其他感兴趣的问题。

M6 JETSTREAM用于文物样品检测
主要特点：
1.M6 JETSTREAM不仅可以分析水平放置的样品，还可以分析垂直放置的样品。
2.在高激发强度以及样品台的快速移动情况下，仍可实现快速检测。
3.M6 JETSTREAM的光斑大小可以在5步之内，根据样品结构及所需空间分辨率调整到相应的尺寸。
4.采用布鲁克先进的XFlash®硅漂移探测器，该探测器具有很高的计数率能力，在很宽的计数率范围内拥有最佳的能量分辨率。
5.特别的安全电路为用户提供最佳的X射线辐射风险防范措施。
6.超声波测距措施可以防止仪器与被测样品发生碰撞。
7.由于M6 JETSTREAM的可移动性，不论样品结构如何，它都可以很容易的准确定位。另外，M6 JETSTREAM可以很方便的拆卸成四部分，使其便于携带。X射线荧光能谱仪M4 TORNADO
仪器简介：
   微区X射线荧光光谱分析技术是对不均匀样品、不规则样品、甚至小件样品和包裹物进行高灵敏度的、非破坏性的元素分析的首选方法。采用多导毛细管聚焦镜将激发光聚焦到非常小的区域，以获得极佳的空间分辨率，进行快速分析。任何类型的样品都可以通过简单的样品制备甚至不制备直接进行分析。
测定镀层样品厚度及成分
   采用X射线荧光技术的M4可以分析薄镀层样品，如印刷电路板、金属或塑料件，包括单层镀层和多层镀层。XSpect软件采用无标样基本参数法，可以同时计算镀层厚度和镀层组成。使用标准样品进一步提高定量分析的准确性

RoHS检测
    测量一个PCB样品。u安苏的面分布图显示了下列元素的分布情况：Br(绿色）、Cu（红色）、Au（黄色）、Pb（白色）和Sn（粉红色）
图像的原始大小：250×75像素
测量时间：0.15s/像素

主要特点：
M4 TORNADO采用了全新的技术，为各种用户提供了最佳的分析性能和非常方便的操控性。
采用多导毛细管聚焦镜，照射光斑最小，空间分辨率最高。
涡轮增速X-Y-Z样品台，借助放大倍数可变的摄像系统获得高品质的样品影像，可在“飞行中”进行元素分布分析。

高强度的X射线光管与多导毛细管聚焦镜相结合，确保在非常小的照射区域内获得非常高的激发强度。采用滤光片和可以同时使用的配有不同靶材的双光管，可以根据不同的分析要求，优化激发光谱。
使用XFlash®探测器超高速地获取样品图谱，另外，使用多个探测器可以进一步提高测量速度。
采用无标样分析法精确定量分析块状样品，精确分析多层膜样品。

可抽真空的样品室配有自动门，大尺寸的样品室可以放置各种尺寸的样品。通过两个放大倍数可变的摄像系统观察样品（整体观察和分析区域的细致观察），便捷进样功能和自动对焦功能可以进行快速而精确的定位。通过用户编辑的X-Y-Z样品台运行程序可实现重复测量。
行业应用：
1.地球科学（岩心、岩石、沉淀物、微体化石、年轮等多元素分布成像）

2.司法鉴定、法医及痕量分析（对衣物上的弹孔进行射击残留物GSR分析）

3.艺术与考古(对文物进行颜料、色料的成分分析，修复文物)

4.质量控制与故障分析仪（电子和电子部件元素分析，ROHS分析）
5.发动机部件、电机/润滑油（识别电机/润滑油中的发动机磨损产物）
6.生命科学（检查树木横断面/叶子/树根年轮）
7.材料科学（钢材腐蚀检验）
8.环境科学(土壤重金属、污水污泥重金属分析、空气和城市废物)
9.过滤器上的薄膜（空气滤膜）XRF岩心扫描分析仪串口转GPRS GPRS数传模块充电桩专用工业级嵌入式GPRS模块无线数据透传模块全网通4G网络数据双向透明传输 4G工业级DTU WIFI双网口串口服务器串口转网口或wifiRJ45转串口单串口服务器数据透传

XRF岩心扫描分析仪

型号：
品牌：

仪器简介：
剖面沉积物元素分析仪结合了X-射线荧光分析(X-ray Fluorescence)和数字X-射线成像（digital x-ray micro radiography）技术，用于沉积物样柱（样芯）的非接触式测量，可用于土壤剖面、土芯、海洋或湖底的沉积物、岩石、洞穴堆积物（如钟乳石），泥炭块、岩芯等的密度和元素分析。可测量的元素有Al、Si、S、Cl、K、Ca、Cr、Mn、Fe、Cu、Zn、As、Hg、Pb等，其中许多可测至痕量水平以下，对灵敏度和分辨率要求较高的研究尤其适合。
剖面沉积物元素分析仪采用XRF和数字X-射线成像技术，非破坏性测量，获得样品高分辨率的数码图像，然后利用系统软件对所得图像信息进行分析。

Itrax XRF岩心扫描分析仪：
X射线荧光分析（μ-XRF analysis），提供铝以上的多种元素的浓度分布数据（Al – U）
X射线照像分析（μ-radiography），用于分层序列结构成像，提供密度数据
数码光学相机，提供样高分辨率光学表面扫描，可实现磁化率、颜色光谱测试
X射线源最大3KW
样品最长可达1.8米，样品有圆柱状，平面状，U形样品
进样速度从1cm到20μm 可调
XRF扫描光斑大小为0.2×4mm，扫描速度为2 s/ spot
XRF灵敏度达PPM级
X射线成像分辨率小于>20×20 μm，扫描速度为1秒/点
自动运行，无人值守
非接触式分析，不破坏样品

技术参数：
测量土壤剖面、土芯、海洋或湖底沉积物、岩石、洞穴堆积物（如钟乳石），泥炭块、岩芯等的密度；
用于土壤剖面、土芯、海洋湖底沉积物、岩石、洞穴堆积物（如钟乳石），泥炭块、岩芯等的元素分析；
可分析Al、Si、S、K、Ca、Cr、Mn、Fe、Cu、Zn、As、Hg、Pb等多种元素，许多可测至痕量水平以下；
测得多种元素的密度曲线；
可同时监测几种元素；
可应用于环境污染调查、环境修复、地质勘探、海洋研究、海洋沉积与古环境、湖泊沉积与环境、古气候学、过去全球变化等领域