FEI Apreo 扫描电子显微镜:Leica DVM6

更新时间：2026-10-19 14:49:53

FEI Apreo 扫描电子显微镜

功能最为丰富的高性能SEM

Apreo 革命性的复合透镜设计结合了静电和磁浸没技术，可产生前所未有的高分辨率和信号选择。这使得Apreo 成为研究纳米颗粒、催化剂、粉末和纳米器件的理想平台，并且不会降低磁性样品性能。

Apreo 受益于独特的透镜内背散射探测，这种探测提供卓越的材料对比度，即使在倾斜、工作距离很短或用于敏感样品时也不例外。新型复合透镜通过能量过滤进一步提高了对比度并增加了用于绝缘样品成像的电荷过滤。可选低真空模式现在的最大样品仓压力为500 Pa，可以对要求最严苛的绝缘体进行成像。

通过这些优势（包括复合末级透镜、高级探测和灵活样品处理），Apreo 可提供出色的性能和多功能性，帮助您应对未来的研究难题。

新的Apreo SEM 可对纳米颗粒、金属、复合材料和涂层等多种材料进行检测，并且整合了创新功能，可提供更好的分辨率、对比度和易用性。

独有的复合末级透镜可在任何样品（即使在倾斜时或进行地形测量时）上提供优异的分辨率（1 kV 电压下为1.0 nm），而无需进行电子束减速。

作用极大的背散射探测- 始终保证良好的材料对比度，即使以低电压和电子束电流并以任何倾斜角度对电子束敏感样品进行TV 速率成像时也不例外。

无比灵活的探测器- 可将各个探测器部分提供的信息相结合，获得至关重要的对比度或信号强度。
Leica DVM6二氧化硫检测仪二氧化硫报警仪甲苯报警仪甲苯挥发报警器氢气报警仪

Leica DVM6

如果您从事质量控制/保证、故障分析、研发或取证工作，在显微镜下搜寻细节可能会占用您大量时间。Leica DVM6 快速、可靠且使用方便，适合所有用户。它结合了出众的光学器件、直观的操作和智能化的软件，是一项为您节省时间的完美解决方案。

使用方便：从宏观到微观仅需一步

借助 DVM6，您可在一瞬间从大图获取最小的细节。即使需要切换物镜，您也能无缝开展工作，因为样品始终处于聚焦状态，且无需预先调整。使用倾斜功能，您可从不同角度 (最高达 ±60°) 观察样品。

Leica DVM6 为何能为您节省时间

16:1 的变倍比范围便于快速更换放大倍率

2350x 的放大倍率可在同一显微镜上显示低至 0.4 微米的细节

可在同一焦平面中提供 35 mm 到 0.18 mm 的水平视场范围

单手操作

单手物镜更换设计便于无缝开展工作

单手即可保持聚焦状态和操作倾斜功能

X、Y 和 Z 方向均支持手动／电动混合操作 - 智能自动化技术有助于提高速度

操作方便，仅需少量培训时间

图像质量：可通过更明快的图像看到更多细节

实现出色的图像质量！Leica DVM6采用徕卡品牌闻名世界的一流光学器件。选择不同的内置LED照明选项，展现前所未有的丰富细节。高分辨率摄像头可为您摄取色彩自然的图像。

为什么使用 Leica DVM6 可以发现更多细节?

1000 万像素高分辨率摄像头

以 30 帧／秒以上的帧速快速显示实时图像

通过经 PlanApo 校正的卓越徕卡光学器件查看更多细节

即使在较大视场下也能理想地照亮样品

能够以各种方式组合照明和对比选项，以最佳效果突显样品特性

结果令人印象深刻：借助智能自动化技术

DVM6 可加快您的日常工作，尤其是重复性任务。系统会在后台自动存储设置。数字显微镜的编码功能可令数据更加准确可靠，并有助于避免出错。LAS X 软件可帮助您轻松完成导览，并提供可满足各类需求的测量工具。可以确信的是，每位用户都能输出相同质量的数据。

为何您能轻松再现结果

变倍比范围可进行连续编码和校准

所有仪器组件均采用传感器控制

每幅图像连同所有设置均被保存，例如照明、位置、放大倍率

只需单击一次即可创建 2D 和 3D 测量报告

直观易用的软件：您的自动导航员

LASX 软件是令 DVM6 快速可靠、使用方便的关键因素。使用预定义的摄取模式，无论是单次摄取还是 XYZ 上的大幅拼接图像，都能创建完美图像。高效分析是该款显微镜的固有优势：您可在 2D 和 3D 模式下测量，并对图像进行注释。最后，只需单击一次即可将结果导出到自定义的 Excel 报告模板中。

LAS X 如何帮助您加快工作流程

图像预览功能便于您改善图像质量 - 可从六个不同的建议中选择。只需单击一次即可使用首选设置进行图像自定义

以高动态范围 (HDR) 展现实时图像，让每一处细节一览无遗

可在整个 XY 扫描区域扩展 3D 图像，几乎无尺寸限制

LAS X 是一款原生 64 位应用程序，可在标准 PC 上的 Windows 7 环境下运行