微位移传感器 SMW-GSC-XS厚度测量:日本Union测厚显微镜精密厚度测量最优选择

更新时间：2026-09-25 09:35:34

微位移传感器 SMW-GSC-XS厚度测量

SMW-GSC-XS微位移传感器是利用光栅测量原理，将光栅的光信号转换成对应的电信号，供二次仪表或计算机显示和计算处理。具有精度高，体积小，功耗低，使用方便等特点。后部处理设备可采用数显表显示数据或则用光栅脉冲采集卡与计算机通讯，同样在经过处理后可以与PLC直接通讯。输出信号分正弦信号和5V方波信号，根据使用要求配置。

二、使用安装
SMW-GSC-XS 光栅微型自复位位移传感器主要用于高精度测量。使用时除保证环境条
件外，正确的安装与使用不仅保证测量精度，还能延长使用寿命。光栅测微传感器正确安装
位置是测杆朝下或水平放置。安装固定方式有两种：①以螺钉固定，固定孔中心距为22±
0.2mm。②以①15 轴夹紧。安装固定后，测杆中心线垂直于被测工件。
使用时，测头接触基面，数显表清零，轻轻提起测杆，当测头接触被测工件表面时，
数显表显示值就是测量值。切忌快推或快速释放测杆，以免损坏光栅或因撞击影响传感器精
度。
三、故障分析处理
1．光栅测微传感器与数显表对接后，数显表不显示。故障原因：
①电源未接通（保险丝熔断）②传感器输出插头与数显表插座接触不良：上述检查仍不
能排除故障，应检查数显表电路或送厂家检修。
2．接通电源数显表工作正常，推动测杆，数显表现显示不进位。故障原因：检查传感
器有无输出信号，若无输出信号属传感器内部故障，送厂家检修，
3．数显表进位正常，显示数字频频闪动。故障原因：
①检查输出信号幅值是否过低（一般幅值大于500mv）
②用示波器检查输出信号波形与相位是否正确，若不正确属传感器内部故障，送厂家检
修。
③检查屏蔽线接地是否良好。

型号： SMW-GSC-XS
量程： 0-50mm
栅距： 10μm(100对线/毫米）；20μm(50对线/毫米）
工作电压： 5VDC、24VDC
精度： 0.5μm、1μm、5μm
输出信号： TTL方波正弦波 RS232 RS485
测力： ≤2.5N
最大工作速度： 1.5m/s
工作温度： 10～45℃
存储温度： -20-+70℃
接线方式：红色电源正，黑色负极，蓝色A相，绿色B相
应用范围：厚度测量、缝隙测量、微位移测量、间距或直线位移测量、实验仪器、精度检测站、工业控制等领域

发货说明：
1、广东省内大部分地区均支持快递公司代收货款，外省不支持代收货款，仅支持电汇或网上转账方式，款到发货。
2、非大型物件均通过快递公司发货，快递费由我公司承担；大型物件则通过物流发货，运费需协商承担。一般省内发货默认选择联昊通，省外发顺丰快递，大型物件会选择德邦物流，如有特殊要求的朋友请与责任业务员协商。
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日本Union测厚显微镜精密厚度测量最优选择

型号:THS
品牌：日本UNION
厚度测量显微镜原理：
THS是一款非接触式的光学测量系统。它采用光学对焦检测原理。THS采用上下两套光学系统，各配置单独的光学对焦系统，用于观察工件的位置和形状，测量厚度可达10mm。THS光学系统，操作简单，而且，裂像会清晰的显示在显示器中。
THS厚度测量原理是基于UNION独特的光学测量原理。THS有上下两套光学系统，每个系统都有精密的对焦装置，对焦装置内有一个内置的裂像。

厚度测量显微镜特点：
即使工作台上没有放置工件，显示器上也会显示裂像图像，裂像图像可通过上下光学系统简单的辨别。
此设备通过上下两个镜头对零件两个面进行聚焦，以下镜头为基准，上镜头进行聚焦测量，从而测量出被测零件的厚度。不但精度可达1微米，而且采用Union光学株式会社专有的裂像辅助对焦系统可以最大程度的减少人为误差从而达到精准测量。此设备最大测厚尺寸为25mm。

厚度测量显微镜测量步骤
A、先将上下两镜头在不加任何测量件的情况下同时聚焦，此时两个清晰的裂像标记出现在显示器上。然后，将Z轴数字计数器置零。（如图）
B、将样品放置在显微镜工作台上, 然后移动下镜头聚焦于样品的底部。
C、当下镜头聚焦到测量零件表面后，再移动上镜头的调焦旋钮。当裂像指示器清楚的聚焦在测量样品表面时，此时读数器上显示的数值即为所测样品的厚度

厚度测量显微镜应用行业：
测量范围为0~10mm，因此应用范围广泛。
开罐器
可以量测开罐器的各个部分(score residual, etc.)
测量盖子凹槽的深度(score residual, etc.)
Wafer减薄行业厚度测量、电池行业防爆弹片厚度测量等等
Union厚度测量显微镜与激光测量的区别
THS光学测量，不仅可以测量，还可以观察测量点的表面情况
激光测量，仅可以测量

产品详情：http://www.wyldar.com/productshow.asp?id=1008