LX-9830GA电压降综合测试仪:FT-351高温四探针电阻率测试系统

更新时间：2026-05-21 07:50:59

LX-9830GA电压降综合测试仪

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型号：LX-9830GA
品牌：瑞柯仪器
LX-9830GA电压降综合测试仪
一、功能概述：电压降综合测试仪为瑞柯仪器公司开发，是目前行业中功能和技术较先进之品，与国际同行产品较一致性，采用AD芯片控制技术及先进的电源设计控制技术，确保产品在测量过程中恒流、恒压供给；有可调节之电流和电压输出两种测试方式；具备上下限设定功能及超上下限声光报警；恒流恒压测试时间设定；良品和不良品之统计功能；提供手动和自动测量模式，并可依据不同之测试品提供辅助治具；仪器管理具有密码保护功能设定.选购：本机除能单独使用外还可以外接控制单元PLC,打印机，电脑，PC软件；满足其他系统集成和生产线自动化控制改造，提供USB和232信号输出接口，如果您的产品属于线束或者端子接插件的话，我们依据标准提供给你测试窗口；解决测试过程中两次测量数据差值的计算；选购:如果您购买了PC软件，可以解决您数据存储，报表生成，测试过程数据读取和界面控制和打印等问题；测试数据的重复性及可比性分析；当然根据测试样品的不同（选购）一付测试治具对测试准确性的提高大有帮助.
二、适用范围：广泛用于测量开关触点、继电器、汽车开关、汽车线束、压接线端子、连接器、不可重接插头插销与连接插头引出线等类似接线口的电压降等相关产品之接触电压降或负载测量，或类似产品使用；与国际上通用之测量方式相通. 满足标准：QC/T 730-2005 ;ISO 6722：2002 GB/T 2951—1997; GB/T 3048—1994 QC/T29106-2004; QC/T413-2002 ;QC/T413-2002 SAE/USCAR38 2009
;同时满足德国、法国、韩国、日本、等国家标准要求和测试规范，电压降实验按QC/T29106-2004标准5.7进行实验 QC/T29106-2004标准：5.7端子与电线压接处的电压降实验按图2所示，在端子与电线压接处中间位置致电线75mm长的电线处（剥去绝缘层钎焊牢固）的两点间测量，扣除75mm长的电线电压降后即为端子与电线压接处的电压降。当一个端子同时连接两根或两根以上电线时对个根电线分别施加电流以测量电压降.
三、技术参数描述
测量项目技术规格精度
1.测试电流（选购） 0-40A 0-60A 0-100A 0-200A 0-300A 0.01A
2.测试电压（开路） 0-12V;0-24V;0-30V(选购) 0.01V
3.电压降范围 0-199.99mv 0.01mV
4. 测试时间测试时间0.01S—99.99H任意设定
5. 统计功能良品及不良品统计计数：0-99999
6. 测量模式手动和自动测量模式
7. 电压降设定上下限设定功能及超限声光报警
8.设备管理仪器管理密码设定功能
9.电源输入输入电压:AC220V+10%,50Hz
10.环境要求仪器使用环境要求：工作温度：10℃－30℃，湿度：≤65%RH
11. 治具依据产品选购治具1付
12.外部单元提供USB;232接口；选购：PC软件，电脑，打印机及其他控制单元
FT-351高温四探针电阻率测试系统FT-330系列普通四探针方阻电阻率测试仪新品双电测电四探针电阻率方阻测试仪FT-105F活性炭表观密度测试仪特价固态速溶茶自由流动堆积密度测定仪三氟化硼报警仪，三氟化硼挥发检测仪

FT-351高温四探针电阻率测试系统

型号：FT-351
品牌：瑞柯仪器
FT-351高温四探针电阻率测试系统
一、概述：
采用由四探针双电测量方法测试方阻和电阻率系统与高温试验箱结合配置专用的高温测试探针治具，满足半导体材料因温度变化对电阻值变化的测量要求，通过先进的测控软件可以显示出温度与电阻，电阻率，电导率数据的变化曲线，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。
二、适用行业：
广泛用于：生产企业、高等院校、科研部门对导电陶瓷、硅、锗单晶（棒料、晶片）电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃（ITO）和其它导电薄膜的方块电阻、电阻率和电导率数据.
三、功能介绍：液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；
本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。
测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.
双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。
四、技术参数资料
1.方块电阻范围：10-5～2×105Ω/□
2.电阻率范围：10-6×106cm
3.测试电流范围：0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA
4.电流精度：±0.1%读数
5.电阻精度：≤0.3%
6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导率
7.测试方式: 双电测量
8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功耗：<30W
9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）
10. 最高温度： 1200℃可调节；冲温值：≤1-3℃；控温精度：±1°C
11、升温速度：9999分钟以内自由设定,一般10分钟内即可升到900℃；功率：3kw.
12、炉膛材料：采用复合陶瓷纤维材料，具有真空成型，高温不掉粉的特征。
13.专用测试PC软件一套，USB通讯接口，软件界面同步显示、分析、保存和打印数据！
14.选购：电脑和打印机