Ux-720 镀层厚度检测仪华高:UX-700 镀层厚度检测仪华高

更新时间：2026-05-15 04:24:43

Ux-720 镀层厚度检测仪华高

访问量：605
型号：Ux-720
品牌：华高

Ux-720 镀层厚度检测仪华唯

配置型号
探测器
X光管
高压电源

Ux-720 M
AMPTEK Si-PIN X-123(进口)
上海科颐维（国产）
咸阳威思曼(国产)

Ux-720 H
AMPTEK Si-PIN X-123(进口)
上海科颐维（国产）
spellman(进口)

Ux-720 S
AMPTEK SDD X-123(进口)
上海科颐维（国产）
spellman(进口)

产品介绍：

Ux-720新一代国产专业镀层厚度检测仪，采用高分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探测器），测量精度和测量结果业界领先。

采用了FlexFP-Multi技术，无论是生产过程中的质量控制，还是来料检验和材料性能检验中的随机抽检和全检，我们都会提供友好的体验和满足检测的需求。

Ux-720微移动平台和高清CCD搭配，旋钮调节设计在壳体外部，观察移动位置简单方便。

X射线荧光技术测试镀层厚度的应用，提高了大批量生产电镀产品的检验条件，无损、快速和更准确的特点，对在电子和半导体工业中品质的提升有了检验的保障。

Ux-720镀层测厚仪采用了华唯最新专利技术FlexFp -Multi，不在受标准样品的限制，在无镀层标样的情况下直接可以测试样品的镀层厚度，测试结果经得起科学验证。

样品移动设计为样品腔外部调节，多点测试时移动样品方便快捷，有助于提升效率。

设计更科学，软硬件配合，机电联动，辐射安全高于国标GBZ115-2002要求。

软件操作具有操作人员分级管理权限，一般操作员、主管使用不同的用户名和密码登陆，测试的记录报告同时自动添加测试人的登录名称。

产品指标：

测厚技术：X射线荧光测厚技术

测试样品种类：金属镀层，合金镀层

测量下限：0.003um

测量上限：30-50um（以材料元素判定）

测量层数：10层

测量用时：30-120秒

探测器类型：Si-PIN电制冷

探测器分辨率：145eV

高压范围：0-50Kv，50W

X光管参数：0-50Kv，50W，侧窗类；

光管靶材：Mo靶；

滤光片：专用3种自动切换；

CCD观察：260万像素

微移动范围：XY15mm

输入电压：AC220V，50/60Hz

测试环境：非真空条件

数据通讯：USB2.0模式

准直器：Ø1mm，Ø2mm，Ø4mm

软件方法：FlexFP-Mult

工作区：开放工作区自定义

样品腔：330×360×100mm

标准配件

样品固定支架1支

窗口支撑薄膜：100张

保险管：3支

计算机主机：品牌+双核

显示屏：19吋液晶

打印机：喷墨打印机

可选配件

可升级为SDD探测器

可以实现全自动一键操作功能，准直器自动切换，滤光片自动切换，开盖随意自动停，样品测试照片自动拍照、自动保存，测试报告自动弹出，供应商信息自动筛选和保存

UX-700 镀层厚度检测仪华高钢化玻璃表面应力仪日本折原便携式的关节臂测量机Apollo系列龙门式测量机供应光泽度仪色差仪红外测温仪JJSD电动筛选器谷物筛选器谷物选筛

UX-700 镀层厚度检测仪华高

型号：UX-700
品牌：华高
UX-700 镀层厚度检测仪华唯

配置型号
探测器
X光管
高压电源

Ux-700 M
AMPTEK Si-PIN X-123(进口)
上海科颐维（国产）
咸阳威思曼(国产)

Ux-700 H
AMPTEK Si-PIN X-123(进口)
上海科颐维（国产）
spellman(进口)

Ux-700 S
AMPTEK SDD X-123(进口)
上海科颐维（国产）
spellman(进口

产品介绍：

本着对插接件等细小结构件的单镀层和多镀层厚度的测量，Ux-700更专业小样品测试腔的设计，带有聚焦光点的准直器，高分辨率的探测系统，众多最佳条件的选择，保证测试结果的准确性。

X射线荧光技术测试镀层厚度的应用，提高了大批量生产电镀产品的检验条件，无损、快速和更准确的特点，对在电子和半导体工业中品质的提升有了检验的保障。

Ux-700镀层测厚仪配备了XY轴微移动平台，可以通过鼠标的点击操作，选择样品的多点测试，特别适应于细小结构多种不同镀层材料的测试。

Ux-700镀层测厚仪具有高清晰、高放大倍数的摄像设备，测试样品的部位清楚明了，同时摄像设备拍抓测试部位的图片，和测试数据结果一同出现在测试报告中。

Ux-700镀层测厚仪采用了华唯最新专利技术FlexFp -Multi，不在受标准样品的限制，在无镀层标样的情况下直接可以测试样品的镀层厚度。

产品指标：

测厚技术：X射线荧光测厚技术

测试样品种类：金属镀层，合金镀层

测量下限：0.003um

测量上限：30-50um（以材料元素判定）

测量层数：10层

测量用时：30-120秒

探测器类型：Si-PIN电制冷

探测器分辨率：149eV

高压范围：5-50Kv，50W

X光管参数：5-50Kv，50W，侧窗类；

光管靶材：Mo靶；

滤光片：专用镀层滤光片

CCD观察：260万像素

微移动范围：XY15mm

输入电压：AC220V，50/60Hz

测试环境：非真空条件

数据通讯：USB2.0模式

准直器：Ø0.5mm

软件方法：FlexFP-Mult

工作区：开放工作区自定义

样品腔：70*20mm

整机重量：38kg

镀层测厚方法：

1.磁性涂层测厚法

使用磁性测厚法可测铁、钢导磁金属上面的所有非导磁金属和所有非导电层的厚度，如铁上镀铜、锌、铬、金、银等，涂的油漆、塑料、橡胶、磷化膜、玻璃钢等。

2.涡流层层测厚法

可以测量非导磁导电金属上面非导电涂层的厚度，如不锈钢、铜、铝金属上的油漆层、氧化膜、磷化膜、玻璃钢、橡胶等图层的厚度

3.X射线荧光法

所有金属材料/非金属材料上单金属成分、2元或多元合金材料的单层和多层厚度的测试，同时可以测试镀层材料的合金成分含量比例。

常用单位：

微米（um），微英寸（u‘’）俗语“迈”，密耳（mil）

1um=39.4迈， 1um=0.04mil