| 会员中心 | 设为首页 | 添加收藏 |
 |
| 当前位置：首页 > 供应信息 > 产品信息 > |
On line System-NIR联机近红外系统:NanoMap-D三维光学表面轮廓仪 |
更新时间：2026-05-06 20:44:35 |
On line System-NIR联机近红外系统访问量：555 型号：On line System-NIR 品牌：美国海洋光学 光谱测试仪器 >> 近红外光谱仪 >> On line System-NIR联机近红外系统 产品编号： 4715581416 产品名称： On line System-NIR联机近红外系统 规 格： On line System-NIR 产品备注： 产品类别： 光谱测试仪器 产 品 说 明 On line System-NIR联机近红外系统 On line System – NIR Technical Specifications 项目 说明 特点 样品器械 多点传感器 远程遥控传感器 最多达到12个点 光效应 反射率 在远程遥控传感器间连续 样品处理 自动样品系统 可编程校准系统 样品类型 颗粒 颗粒、面粉 窗口测量 石英 G1 等级 工作温度 5℃~50℃ 工作温度 <90% 测量时间 程序依靠资料集成 最大表现 电压 110-200 V +/-4%（开关） 稳定、滤过 电流 1.5 A 光学装置 光源 卤素钨灯 6 W 探测器 照相PDA二极管阵列 512/256像素 显示模块 50/75 微米 光谱范围 900 nm- 1700 nm 1200 nm-2100nm 512/256像素 光学分辨率 3.5 nm/ 7.4 nm 512/256像素 整合时间 10 us – 65535 ms 用户可编程 参考 聚四氟乙烯 自动 光暗度 光封闭100% 自动 自动核心单元 近红外组件 隔离温度控制 内部 20℃ +/- 0.1℃ 光纤往返 远程传感器序列管理 最大12个远程传感器 电控 自动微型控制器 测量控制序列 电压 个人装置 小操纵台 特别设备架 单独的 电流 4.5A 通讯 PC-Central Serial RS232 PC-NIR 模块 USB 控制装置 可控制通讯 中心软件 工作系统 Windows 2000，XP 样品鉴定 自动 传感器-资料和时间 历史资料 资料库装置 输出格式 安全性 不同的安全等级 管理员编程 产品 感应器自行关联 用户可编程 记录 个人和平均资料，最后保存资料 感应器和参数 屏幕 根据用户 编程 图表 时间图表 资料 目标生产线 根据用户编程 参数 无限制 依靠校准器 调节 偏压 测量 从属软件 程序设计 视觉基础 运行系统 Windows 2000，XP 在线资料 用户可控制 视觉资料无管理 NanoMap-D三维光学表面轮廓仪MICROR Series 微型系列干涉仪 光学精密机械 >> 光学平台 >> 立柱SFS 西格玛精密（压电陶瓷）平台 紫外分光光度计 GENESYS 10S全自动生化分析仪XR210 |
NanoMap-D三维光学表面轮廓仪型号：NanoMap-D 品牌：美国海洋光学 光谱测试仪器 >> 三维表面轮廓仪 >> NanoMap-D三维光学表面轮廓仪 产品编号： 5121562716 产品名称： NanoMap-D三维光学表面轮廓仪 规 格： NanoMap-D三维光学表面轮廓仪和三维接触式表面轮廓仪系统 产品备注： 产品类别： 光谱测试仪器 产 品 说 明 NanoMap-D三维光学表面轮廓仪和三维接触式表面轮廓仪系统 你极想知道哪种技术用于表面形貌接触或非接触的轮廓仪。接触和非接触两种技术存在大约30年了，但是两种技术都不能相互取代。它们是互为补充的技术。我们的下一代先进通用的表面轮廓仪能够在同一个检测器上容纳三维光学表面轮廓仪和三维扫描接触轮廓仪。两个互补的技术在同一个平台上打开了容易和可靠地分析任何种类的样品的窗口。自动容易地开关两个头，而且容易的软件使这个系统很有效力和通用性。 购买者有一个选择，现在只选择一个模块，将来在模块平台上能够加第二个头。这个系统是升级的。由研究和生产环境使用。 特征 平台特征 ▪ 客户精密马达台是计算机在5个方向控制的 ▪ 超高分辨率数字成像传感器同工业标准比较，传递13倍的数据 ▪ 容易使用的两个关键操作 ▪ 在一个平台上容纳两种技术 光学轮廓仪头的特征 ▪ 两百万像素图像 ▪ 1皮米的分辨率 ▪ Z轴范围从nm到10mm ▪ 超快速(不到一秒钟产生图像) ▪ LED光源寿命超过20年 接触式轮廓仪头的特征 ▪ 压力尖扫描 ▪ 产生三维图像和二维图像 ▪ Z轴范围 nm到500微米或0.5mm ▪ XY轴范围 nm到150mm(使用针尖和台面扫描模式) 应用 ▪ 台阶高度测量 ▪ 表面粗糙测量 ▪ 定量的抓和挖的特征，呈现深度、宽度和体积 ▪ 平面或曲率的测量 ▪ 二维薄膜应力测量 ▪ 薄膜厚度 ▪ 表面轮廓- 缺陷、形貌等 |
 |
热门产品 |  |
 |
|