台式微区X射线荧光光谱仪M1 MISTRAL:微区X射线荧光光谱仪M1 ORA

更新时间：2026-05-18 14:19:24

台式微区X射线荧光光谱仪M1 MISTRAL

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型号：M1 MISTRAL
品牌：布鲁克Bruker
台式微区X射线荧光光谱仪M1 MISTRAL

台式微区X射线荧光光谱仪
用于大件样品与镀层样品的无损分析

无需任何准备即可分析任何形状的样品
M1 MISTRAL是采用X射线荧光技术的光谱仪，可对大件样品盒镀层样品进行准确的分析。分析的元素范围：原子序数Z=22（钛）以上的所有元素。因此，它可以分析的物质范围较广，譬如金属、合金、金属镀层，包括多层镀层样品。
样品尺寸最大可达100x100x100mm，无需任何处理，直接放在样品台上检测。
光管位于样品上方，测量过程中不接触样品，因此可以很容易地分析复式样的样品，如精工细作的珠宝或者不同厚度的样品。

可以精确测量用户的所需的位置
M1 MISTRAL的微焦斑X射线光管，即使光斑小到100μm也可以产生足够的射线强度，光斑大小取决于所使用的准直器。
采用视频显微镜进行准确定位，可以测量任何想测的位置。可选的计算机控制的自动样品台，并自动聚焦。

超快检测系统，迅速产生结果
M1 MISTRAL可配有两种不同的X射线探测器：大面积充气正比计数器，可用于质量控制中的标准应用；或者配置硅漂移探测器，具有超快的检测速度盒非常好的能量分辨率，检出限可以达到0.01%（重量比）。先进的探测器，数字脉冲处理器及优化的几何结构，确保了X射线探测的最大效率，能够快速地得到准确的分析结果。

易使用，免维护
M1 MISTRAL及XSpect软件的设计，让操作人员只需经过简单的培训即可使用。
仅一个电源接口就可以运行仪器，采用空气冷却，无需消耗品。紧固的结构确保最高的稳定性，并完全免维护。

珠宝及合金分析
M1 MISTRAL是珠宝、硬币及贵金属的理想分析工具。所有珠宝合金、铂族金属及银制品，不到1分钟就可以确定其准确成分。分析结果可以用百分比或K(克拉)表示

测量RoHS检测要求
高性能的M1 MISTRAL也可以测量RoHS指令限定的轻基体的痕量元素。直接控制电气产品中有害元素的浓度。

测量镀层样品
采用X射线荧光技术的M1 MISTRAL可以分析薄镀层样品，如印刷电路板、金属或塑料件，包括单层镀层和多层多层。XSpect软件采用无标样基本参数法，可以同时计算镀层厚度和镀层组成。使用标准样品可以进一步提高定量分析的准确性。

部分应用简介
M1 MISTRAL的应用领域很广，我们选择3个常见的例子进行简要介绍。
珠宝检测
 黄金
 白金
 铂（Pt）合金
 银（Ag）合金
 精度：优于0.2wt%

可分析的多层镀膜样品
可以测定镀层样品的镀层厚度及成分，例如：
 Zn-Fe
 Au-Ni-Cu
 Au-Pd-Ni-Fe
 CuSn-Ni-Cu
 Au-Pd-Ni-Cu

XSpect分析软件
XSpect软件具有以下功能：
 仪器控制，数据采集与处理
 谱峰识别
 定量分析，采用无标样法和基于标样的经验系数法
 镀层样品分析，可分析镀层厚度和成分
 采用基本参数法编辑特定镀层的分析方法
 报告输出

参数 M1 MISTRTALpc M1 MISTRTALSDD
元素分析范围 Ti（22）-U（92） Na（11）-U（92）
激发源高性能微焦斑光管，W靶，玻璃视窗高性能微焦斑光管，W靶，玻璃视窗
电压及功率 50kV，50W；可选40kV，40W 50kV，50W
探测器大面积正比计数器，1100mm2感应面积 Peltier制冷高性能XFlash○R硅漂移探测器，30mm2感应面积，
对Mn-Ka能量分辨率<150eV
光斑尺寸准直器：固定或4个自由切换，Φ0.1到Φ2 mm 准直器：固定或4个自由切换，Φ0.2到Φ2 mm
样品观察高分辨率彩色摄像系统，放大倍率20-40倍高分辨率彩色摄像系统，放大倍率20-40倍
样品台马达驱动Z方向样品台，自动对焦，
选项：马达驱动X-Y-Z样品台便捷进样功能马达驱动X-Y-Z样品台便捷进样功能
定量分析块状样品：基于标样的经验系数法模式和无标样模式
镀层分析：FP-基数参数法模式块状样品：基于标样的经验系数法模式和无标样模式
镀层分析：FP-基数参数法模式
电源 110-230V AC；50/60 Hz，最大功率100W 110-230V AC；50/60 Hz，最大功率120W
尺寸
（宽ⅹ深ⅹ高） 550ⅹ700ⅹ430 mm 550ⅹ700ⅹ430 mm
重量 46 kg 50 kg

微区X射线荧光光谱仪M1 ORADCP-SLY16k型电脑测控纸板撕裂度仪 J-KBH04型可变压力厚度测定仪DCP—WHY18型电脑测控瓦楞纸板厚度仪 DCP-CCY48型电脑测控纸板戳穿强度仪DCP-RRY1000型电脑测控柔软度仪

微区X射线荧光光谱仪M1 ORA

型号：M1 ORA
品牌：布鲁克Bruker
微区X射线荧光光谱仪M1 ORA

M1 ORA 是专门适用于珠宝行业的台式微区X射线荧光光谱仪（μ-XRF）。结构紧凑，占用空间小。
M1 ORA 能准确测定珠宝类合金的元素组成，分析元素范围：原子序数22号（钛）以上的所有元素。
上照式光管，光斑尺寸小至0.3mm，可以对复杂式样的样品进行非接触、非破坏性的分析，数分钟内就可以得到结果。
样品尺寸最大可达100×100×100mm，无需任何处理，直接放在样品台上检测，采用光学显微镜进行准确定位。
采用大感应面积的正比计数器接收样品发出的荧光信号。采集的信号越多，分析结果越精确。可以检测含量在0.5%以上的元素。
基于标样模型或无标样模型，可以鉴别和定量分析样品中的所有元素。准确度高，精度达到0.2 wt%。对于没有预想到的元素也能够进行分析。
黄金成色分析可以用K（开）或质量百分比（%）表示。

技术参数：
参数规格
光源高性能微焦斑光管，钨靶，玻璃窗
电压、功率 40 kV、40 W
探测器大面积正比计数器 1100mm2 感应面积
光斑尺寸 0.3 - 1.0mm 准直管（出厂时设定）
样品观察高分辨彩色摄像系统，放大倍数20- 40倍
样品台手动剪式样品升降台
定量分析基于标准样品的经验模型
基于基本参数法的无标样模型
电源 230V/50 Hz, 100 W
尺寸 355×330×330 mm
重量 26 公斤

分析软件包
 XSpect 软件包提供以下功能：
 仪器控制、数据采集和处理
 谱峰识别
 组分定量分析，无标样法和基于标准样品的经验模型