FTB-5240B 光谱分析仪:电子天平仪器校正/砝码校正/长力校正

更新时间：2026-03-14 10:13:20

FTB-5240B 光谱分析仪

访问量：755
型号：FTB-5240B
品牌：EXFO
FTB-5240B 光谱分析仪
随着通信网络的交错使用日益增加，需要设计相应功效的测试设备来面对DWDM

的挑战。无论测试是在生产制造、安装和网络光纤投入使用，还是管理、维护

和单元组件性能的故障发现及处理，EXFO的FTB-5240和FTB-5240B光谱分析仪（

OSA）能够处理任何情况。
此外，在业界FTB-5240B光谱分析仪具有优越的性能：在目前工艺水平上，具有

实验室标准的无比优越的性能、测试模块能够快速、精确和有效的进行光纤测

试。
※有效的DWDM测试：FTB-5240光谱分析仪具有出色的光反射率（ORR）、分辨率

带宽、波长范围和动态范围，从而保证其灵活性和功效。FTB-5240B光谱分析仪

拥有更为突出的ORR和高分辨率，已经为下一代的超密集波分复用装置做好了准

备。
※?　　简单的操作：EXFO的OSA光谱分析仪独有的基于Windows2000界面，单键

操作更方便。通过简易、直观的触摸屏完成自动功能的访问。图形用户界面通

过菜单和功能键提供简单的访问操作。
※?　　便携耐用：模块被固定在坚固、轻便的机壳内，并且装有对FTB-400综

合测试系统起缓冲作用的橡胶垫，所以EXFO的光谱分析仪能够承受现场的撞击

或是从实验室工作台上摔落的碰撞。
※?　　一流的光反射率选件：新一代的FTB-5240B选件拥有上佳的ORR，从而可

以提供非匹配的精确的光信噪比测试：0.1nm处达到40dBc、0.2nm处达到50dBc

、0.4nm处达到55dbc。
※?　　内部校准：新一代的FTB-5240B装有内部参考光源来维持在C-和L-波段

的波长精度为±30pm。
※?　　外部校准：在测试前，使用外部光源对您的OSA重新校准可以在C-和L-

波段
　FTB-5240　　FTB-5240B
光谱测试　　　　
波长范围（nm）　　1250~1650　　1250~1650
分辨率带宽FWHM2。3（nm）　　0.065　　0.033
波长精度3。8（nm）　　±0.05
±0.0154　　±0.03
±0.0154
波长重复性5（nm）　　±0.003　　±0.003
波长线性度3（nm）　　±0.01　　±0.01
幅值测试　　　　
动态范围3（dBm）　　+186~-757　　+186~-757
功率精度9（dB）　　±0.4　　±0.4
扫描时间（s）　　<1.5（35nm扫描，完全分辨率、多峰值分析）
光回损（dB）　　>35　　>35电子天平仪器校正/砝码校正/长力校正液体体积电阻率测试仪臭氧老化试验箱QL极性仪供应工业用臭氧消毒柜化妆品臭氧灭菌柜生产厂家

电子天平仪器校正/砝码校正/长力校正

型号：565
品牌：三丰
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电子天平在日常的测量使用中要尽量避免产生误差，就要求在使用之前进行一定的仪器校正操作，以达到测量的准确度。
一般情况下，对电子天平进行定期的仪器外校不仅能保证电子天平的灵敏度而且还可以保证电子天平测量的数据准确可靠。下面就电子天平校正时的注意要点讲解一下：
天平在校正前会出现天平不在零位，外校砝码误差过大，称量系统有机械故障，安装环境不符合要求及天平不水平等故障。
那这时就要注意使天平能够稳定地显示零位，选择符合电子天平精度要求的标准砝码进行校准，改变电子天平的安装环境或修改有关内设程序，使之符合环境要求并调整天平使之处于水平状态。
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