频率表:光学轮廓仪三维共聚焦表面测量/3D显微镜

更新时间：2026-11-14 04:58:25

频率表

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　　μsurf系列产品采用多孔共聚焦技术，结合CCD的影像摄取，以有许多孔洞的旋转盘取代侦测器的孔洞，再将物镜垂直移动，以类似断层摄影方式，可在短时间(约几秒)内精确量测物体的三维数据。其测量方式是非接触式，不会破坏样品的表面，不需要在真空环境下测量，也可以用显微镜测量的功能来观测样本，其在严酷的工作环境下，也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法，在测量渐变较大的高度时，跟其他方法相比，可以更精确量测物体高度，建立3D立体影像，优势相当明显。
　　NanoFocus μsurf custom三维共聚焦表面测量系统，可以根据客户的具体需求进行样品平台和软件的定制，功能齐全，可以自动测量，能精确捕捉样品的三维结构和微纳米尺度的复杂几何形状，并拥有超高光学分辨率和最全面广泛的三维表面形貌分析处理能力。该机台还配备了整合计算机和测量系统的工作台，可以将一些测试报告等资料放在工作台的抽屉里，便捷可靠。