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小型DR平板透视仪:工业无损透视仪设备

更新时间:2026-10-29 13:49:03

小型DR平板透视仪


小型DR平板透视仪,是一种X线直接转换技术,它利用硒作为X线检测器是基于技术,它利用影像板作为X线检测器,成像环节相对DR较多。DR和CR将穿透被照射物体后的X线信息转化为数字信息,灰阶由胶片的256级提升至2048级、能在计算机中处理主要内容是:闪烁,传感器和电子控制单元,数据读出并传输到工作站。动态平板探测器设计允许的DFP发展不同探测器尺寸,这取决于应用领域。动态平板探测器最大的好处是一鲁棒控制和设计,读出电路嵌入,直接进入图像传感器芯片。动态平板探测器基于CMOS的DFP,技术包括二极管传感器阵列的像素尺寸50微米。这使极低暗电流和读出噪声值,高二极管参数一致性,动态平板探测器高倍率的X光透视检查高达100帧,在整个活动地方就可以实现。1技术参数
像素区域:160×130mm
像素分辨率:1280×1024
有效分辨率:1274×1024
像素大小:125×125um
图像1280×1024×2=2.6Mbyte
结构尺寸约250×170mmx厚1.5mm
1. DC插头,5.5×2.5mm,24v电源口
2. 天线外接接口, 图像无线传输(双天线).
3. RJ45网口,带指示灯
4. 指示灯(电源、WIFI等)


17321308250工业无损透视仪设备1906(671)奥氏气体分析仪 泰州手动液压弯管机直销厂家晨光机具052INC/75型培养箱 LCI/42H/DIG型1250L大容量多功能培养箱HE 400型氢气发生器

工业无损透视仪设备


工业无损透视仪设备:主要用于异物检测,电子产品, 内部是否变形、空焊、内部结构检测;.塑胶,人参冬虫夏草、铝件内是否有气孔气泡检测。
电子元件半导体元器件,BGA,IC芯片,CPU, 电子元件电热丝,发热盘,热敏电阻,电容,集成电路,电路板等无损检(检测电子元件内部是否变形、脱焊;空焊等,)还可用于塑料汽泡等检测,皮革制品金属异物检测,断针等检测.矿山皮带检测,安全检查等领域
车站码头安检;鞋产品在生产中有铁钉或其它金属异物不慎脱落掉入产品内检测;皮包、帆布包等各种邮政箱包未指定的地方有铆针(钉)、针头等金属异物脱落其内的检测.
仪器采用ф80平板型显像板即时成像,采用ф0.3微焦点射线管集约束散射线。使用方便、安全、可靠。还可用于。USP连接电脑即时打印检测效果图片.
二、仪器特点
1、无需暗室,显示器同步显示观看;2、高增益,高灵敏度,高空间分辨率,响应时间短;
3、结构简单,体积小,重量轻,可手提使用;4、射线剂量低,安全可靠,操作简便。
三、技术参数
1、视场:Φ80mm; 2、分辨率:46Ip/cm; 3、输出屏亮度:〉6cd/cm2 ;
4、最大间距:300mm; 5、管电压:65-80kv; 6、管靶流:0.15-0.5mA;
7、对比度:5%; 8、灰 度:7级; 9、漏射线:<5mR/h;
10、主机重量:6kg; 11、功 耗:50W; 12、电源:220VAC。

联系人:张勇:13524423266
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