振动漏斗法松装密度仪:SCI-2分子筛堆积密度测定仪

更新时间：2026-05-25 06:59:06

振动漏斗法松装密度仪

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型号：
品牌：
FT-102A振动漏斗松装密度测定仪：依据标准：SJT 10215-1991 磁性氧化物粉末密度测定松装密度的测定-振动漏斗法.和参照采用ISO 3923/3金属粉末松装密度的测定第三部分:振动漏斗法，满足GB/T5061-1998金属粉末松装密度的测定第3部分振动漏斗法;
FT-102A振动漏斗松装密度测定仪：适用范围本标准适用于不能自由流过孔径为5mm的磁性氧化物粉末松装密度的测定.不适用于在振动过程中易碎裂的粉末，如针状和纤维状。同时适用于类似粉末松装密度的测量。
FT-102A震动漏斗松装密度测定仪：仪器原理将粉末装入振动装置的漏斗中，在规定的条件下振动，使粉
末从漏斗中按一定高度自由降落，充满已知容积的圆柱杯内。在松装状态下，以单位体积粉末的质量表示
粉末的松装密度
FT-102A振动漏斗松装密度测定仪：技术参数
1、漏斗孔径为7.5 mm,漏斗孔底部与圆柱杯上表面距离为25mm，
2、振动器工作电源频率50Hz,漏斗以水平方向振动，
3、圆柱量筒容积为25士0 5cm. 漏斗锥度60°
4、漏斗和圆柱杯用黄铜制成，并应具有一定壁厚和硬度
5、夭平应有足够的称量范围，且称量的精度能达到士0.05 g.（用户自备）
FT-102A振动漏斗松装密度测定仪
一般性能
1、粉末密度测定松装密度的测定-振动漏斗法.和参照采用ISO 3923/3金属粉末松装密度的测定第三部分:振动漏斗法，满足GB/T5061-1998金属粉末松装密度的测定第3部分振动漏斗法;
2、产品满足使用维护方便、安全可靠、经济合理和实用美观的要求。
3、仪器的安装、调试及使用方法
4、确认准备安放本仪器的实验台处于水平状态，
仪器的安装。
1、将减振垫片放置在仪器下方
2、25ML的容器加底座参照漏斗出料口放置于中心、
4、调节振动控制器调至最小
5、打开电源启动
6.按照标准要求完成试验即可
瑞柯仪器提示，还有相关联产品FT-102A震动漏斗松装密度测定仪，FT-100A振实密度测定仪;FT-101斯柯特容量计松装密度测试仪,FT-102霍尔流速计/松装密度测试仪-不锈钢材质;FL4-1霍尔流速计/粉末流动性测定仪-黄铜材质
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SCI-2分子筛堆积密度测定仪

型号：
品牌：
SCI-2分子筛堆积密度测定仪 SCl-2堆积密度测定仪
本仪器依据GB-T 6286-1986 分子筛堆积密度测定方法要求设计
本标准适用于粒状分子筛松装密度和振实密度的测定。
具体参数：
1. 振幅1～3mm
2. 频率100-200次/min
3. 量筒规格：100ML/300ML各一个
4. 计算器：0-9999可预设定。
5. 加料速度：3-5ML/S
6. 加料槽规格：85*45*20mm
7. 测定容器材质：不锈钢
8. 机箱材质：钣金烤漆
9. 电源：220V/50HZ
配件：容器：3个
电源线：1条
毛刷：一把
瑞柯仪器质量服务承诺：
1.质保期12个月，终生维护。
2.在质保期内，除人为因素外，任何因仪器设计、材料或工艺不当引起的缺陷、故障我们免费修理或更换。
3.接到用户通知所提供的仪器出现故障后，十分钟内回应.
4.保证及时向用户以最优惠的价格提供所需的备品备件和易损件
测定步骤
4.1 松装密度的测定
4.1.1 调节测定仪贮存漏斗(2.1.1)的高度及加料器(2.1.2)的振动电压和斜度，使加料速度控制在3.5ml/s。
4.1.2 将备用试样(3.2)装入测定仪的贮存漏斗中，通过测定容器(2.1.3)上端套筒，加入容积为100ml的测定容器中。
注：粒径大于5mm的球形试样和条径大于3mm的条形试样，用容积为300ml的测定容器。
4.1.3 除去容器上端套筒，用直尺刮平高出容器的试样。
4.1.4 称量测定容器中的试样(准确至0.01g)。
4.2 振实密度的测定
4.2.1 调节测定仪(2.1)振击电压，使振动频率控制在140～160次/min。
4.2.2 将备用试样(3.2)取120ml，分三次，每次将取样量的l/3通过测定容器(2.1.3)上端套筒，倒入测定容器中。每倒一次，振击1000次，共振击3000次。
注：粒径大于5mm的球形试样和条径大于3mm的条形试样，取备用试样360ml。
4.2.3 除去容器上端套筒，用直尺刮平高出容器的试样。
4.2.1称量测定容器中的试样(准确至0.01g)。
4.3 测定试样的吸水量
4.3.1 即刻取测定堆积密度后的试样二份，每份10g左右，置于二只已称重(准确至0.01g)的瓷坩埚中。
4.3.2 将盛有试样的瓷坩埚放入箱式电阻炉(2.3)中，在550℃焙烧1h。
4.3.3 取出二只瓷坩埚，置于真空干燥器内，在空气压强小于1.0×103Pa的条件F，冷却试样至室