工业x光无损探伤设备:德国尼克斯漆膜测厚仪QNix4200

更新时间：2026-05-03 01:43:04

工业x光无损探伤设备

访问量：853
型号：zj-bjn6
品牌：真晶
工业x光无损探伤设备主要针对电子元器件厂、电热丝厂、BGA、IC芯片、CPU、冬虫夏草，半导体元器件、集成电路、电路板、电子产品内部结构是否变形、脱焊、空焊等检测；同时用于玩具厂、鞋厂、制药厂等检测. 检测鞋产品、在生产中有铁钉、断针或其它金属异物不慎脱落掉入产品内的检测；还可用于: 塑胶件、铝件内是否有气孔气泡检测. FGX-01/n8检测仪,是为生产商设计的,电子产品专用检测设备。
仪器采用ф80平板型显像板成像，采用ф0.3微焦点射线管集约束散射线。使用方便、安全、可靠。还可用于皮包、帆布包等各种箱包未指定的地方有铆针(钉)、针头等金属异物脱落其内的检测。
二、仪器特点
1、无需暗室，显示器同步显示观看； 2、高增益，高灵敏度，高空间分辨率，响应时间短；
3、结构简单，体积小，重量轻，可手提使用；4、射线剂量低，安全可靠，操作简便。
三、技术参数
1、视场：Φ80mm； 2、分辨率：56Ip/cm； 3、输出屏亮度：〉7cd/cm2 ；
4、最大间距：300mm； 5、管电压：0.1微焦x光光管70-85kv； 6、管靶流：0.3-0.5mA；
7、对比度：7%； 8、灰度：8级； 9、漏射线：<5mR/h；
10、主机重量：6kg；输出图像分辨率：1024x681 12、电源：220VAC。
11．光学放大功能，高清灰度专业图像采集,USP连接电脑,即时成像,存储和打印检测效果图片.
13、软件功能：快照，采单场，采灰度，录像，采序例，水平镜像，垂直镜像，亮度，对比度调节。
联系人：张勇13524423266 电话：021-51920536-17
邮箱：xun8118@163.com 　 QQ:1121225891
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德国尼克斯漆膜测厚仪QNix4200

型号：QNix4200
品牌：德国QNix
QNix4200和QNix4500这两种型号一体化设计，只需调零，无需校准，使用极其简单。其中QNix4200为磁性测厚仪，可以用来测量钢、铁等磁性基体上的涂层、镀层；QNix4500为磁性和涡流两用测厚仪，不仅可以用来测量钢铁等磁性基体，还可以用来测量铝、铜、不锈钢等非磁性金属表面的涂层、氧化膜、磷化膜等覆层。这两个型号操作简单，携带方便，精度高，为广大用户所喜爱。

二、QNix4200/4500涂层测厚仪产品优点：
只需调零，无需校准
体积小巧，操作方便
一机双用，自动识别基体
精度高
价格便宜
三、QNix4200/4500涂层测厚仪技术参数：
技术参数
磁性基体(Fe模式) QNix4200/4500均有此功能
非磁性基体(NFe模式) QNix4500有此功能
测量范围 Fe:0-3000um/NFe:0-2000um
显示精度 0.1um
精度 0-50um:≤±1um
50-1000um:≤±1.5%读数
1000-3000um≤±3%读数
最小接触面 10×10mm
最小曲率半径凸面：3mm
凹面：25mm
最小基体厚度 Fe:0.2mm/NFe:0.05mm
温度补偿范围 0-60℃
显示 LCD液晶(带背光)
探头红宝石固定式
电源 2×1.5V干电池
尺寸 100×60×27mm
重量 110g