孔铜/面铜测厚仪:手持式元素分析仪

更新时间：2026-04-26 21:42:37

孔铜/面铜测厚仪

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型号：CMI760
品牌：牛津仪器
仪器介绍
牛津仪器测厚仪器CMI760专为满足印刷电路板行业铜厚测量和质量控制的需求而设计。
CMI760可用于测量表面铜和穿孔内铜厚度。这款高扩展性的台式测厚仪系统能采用微电阻和电涡流两种方法来达到对表面铜和穿孔内铜厚度准确和精确的测量。CMI 760台式测量系统具有非常高的多功能性和可扩展性，对多种探头的兼容使其满足了包括表面铜、穿孔内铜和微孔内铜厚度的测量、以及孔内铜质量测试的多种应用需求。
同时CMI760具有先进的统计功能用于测试数据的整理分析。
技术参数
SRP-4面铜探头测试技术参数：
铜厚测量范围：
化学铜：10 μin – 500 μin (0.25 μm – 12.7 μm)
电镀铜：0.1 mil – 6 mil (2.5 μm – 152 μm)
线形铜可测试线宽范围：8 mil – 250 mil (203 μm – 6350 μm)
准确度：±1% (±0.1 μm)参考标准片
精确度：化学铜：标准差0.2 %；电镀铜：标准差0.5 %
分辨率：0.01 mils ≥ 1 mil, 0.001 mils <1 mil,
0.1 μm ≥ 10 μm, 0.01 μm < 10 μm, 0.001 μm < 1 μm
ETP孔铜探头测试技术参数：
可测试最小孔直径：35 mils (899 μm)
测量厚度范围：0.08 – 4.0 mils (2 – 102 μm)
电涡流原理：遵守ASTM-E376-96标准的相关规定
准确度：±0.01 mil (0.25 μm) < 1 mil (25 μm)
精确度：1.2 mil（30μm）时，达到1.0% （实验室情况下）
分辨率：0.01 mils (0.1μm) 手持式元素分析仪租赁&销售Anritsu MT8820B CMU200 通用无线通信测试仪Aglient 8960无线通讯测试仪 Agilent N4010A无线连接测试仪CMW500无线通信综合测试仪

手持式元素分析仪

型号：X-MET5100
品牌：牛津仪器
手持式X荧光光谱仪(RoHS有害元素筛选)X-MET5000
主要特点:
能够对在电子电气设备中限制使用的有害物质进行高精度、高可靠性的鉴定。拥有牛津仪器 PentaFET? 专利技术的仪器，保证了用户对所有感兴趣的元素均得到快速分析，并且提供更低的元素检测下限。可以为塑胶、印刷线路板、电缆、塑胶外壳、焊料、紧固件、金属薄片和其他电子元器件提供快速、无损、“对准即测”的筛选分析。
仪器介绍:
牛津仪器推出了新款手持式 X 射线荧光光谱仪，可满足有害元素筛选的要求。
（RoHS/WEEE/ELV/无铅/高可靠性系统/包装材料）
牛津仪器宣布推出一款坚固的手持式 X 射线荧光光谱仪 (XRF) — X-MET5000，该仪器能够对在电子电气设备中限制使用的有害物质进行高精度、高可靠性的鉴定。牛津仪器的手持式 X 射线荧光光谱仪誉满全球，X-MET5000 是其第四代产品。
这款拥有牛津仪器 PentaFET? 专利技术的仪器，保证了用户对所有感兴趣的元素均得到快速分析，并且提供更低的元素检测下限。
X-MET5000可以为塑胶、印刷线路板、电缆、塑胶外壳、焊料、紧固件、金属薄片和其他电子元器件提供快速、无损、“对准即测”的筛选分析。
RoHS等指令限制电子和电气产品中铅、汞、镉、六价铬、多溴联苯和多溴联苯醚（溴的化合物）的含量。这些指令要求对所有电子设备中使用的材料和零部件进行检测，这对电子产品制造厂商和全球供应链产生了很大的影响。X-MET5000采用IEC 62321标准中所规定的测试方法，能够非常便捷有效地筛选样品中的相关受限物质的含量是否能够满足RoHS指令的相关要求。
航空、医学、军事等属于这些指令的豁免行业，用X-MET5000可以确保其产品部件中含有足够量的铅，特别是在镀层和焊接件中足够的铅含量能够保证产品的安全性和可靠性。X-MET5000还可以在数秒内分拣出塑料制品中的聚氯乙烯、溴或锑的含量，以符合废旧电子和电气设备回收（WEEE）指令的要求。
其强大的用户自定义软件能够提供准确的分析结果，从而提高了“合格/不合格”决定的可靠性。X-MET5000 能够识别材料类型，并自动选择最佳分析方法。
借助于其可选配的台式支架，可免除执行多分析任务时的手工操作，同时又不会令测量结果的置信水平受到任何影响.