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JB-500光电直读光谱仪:ICP光谱仪

更新时间:2026-10-13 13:07:49

JB-500光电直读光谱仪


JB-500光电直读光谱仪
JB-500型多道光电直读光谱仪是光、机、电、计算机等一体化的高新技术仪器。主要由激发光源、分光系统、测控系统、数据处理系统、真空系统、气路系统等部分组成。仪器广泛用于冶金系统(铸铁、铸钢、铸铜、铸铝、铸镁、铸锌等各种铸造企业)、各类机械制造行业、化工行业、质检局等多种行业,是冶金炉前快速定量分析、金属材料质量监控的必要仪器。
一.主要技术指标
1. 激发光源:
电源电压:50Hz、220V±1%
输入功率:1.2KVA
预燃电容:7μF
曝光电容:1.5μF
预燃电感:35μH
曝光电感:70μH
峰值电压:300V
峰值电流:预燃120V,曝光60A
引燃电路:
脉冲幅度:+15KV
辅助间隙:5mm
放电频率: 400 Hz/200 Hz,可调整
2. 分光仪:
分析波段范围:145~600nm
凹面光栅:
曲率半径 500mm
刻划密度:2700线/mm
刻划面积:30×50mm2
闪耀波长(一级):230nm
线色散:0.47nm/mm
入射狭缝宽度:20μm
出射狭缝宽度:75μm
允许最多通道:32个
分光仪局部恒温:30℃±0.5℃
真空度:0.5~3.0pa
3. 测控仪系统
测控仪系统是把分光系统所得到的光谱信号进行检测和记录,并根据操作者设定的条件控制各部分协调运行的装置。
测量方式:分段积分
重现性:RSD≤0.2%
光电倍增管高压电源:电压: -1000V
稳定度:8小时优于0.5%
ICP光谱仪减速机测试台 www.testyc.com 低速电机测试 www.testyc.com滚筒测试台 www.testyc.com 永磁同步电机测试台,测功机JB-BS3型微机三元素分析仪

ICP光谱仪


JB-1000单道扫描等离子体光谱仪
应用领域及分析范围 :稀土、贵金属、环保、水质、合金材料、建筑材料、医药卫生、高等院校等科学领域作完整定量分析。
能对:Mn、P、Si、Cr、Ni、Cu、Mo、Ti、Zn、Al、Au、Aq、Fe、Co等70个种元素的定量分析。
主要技术指标:
◆分析速度:一分钟内分析10个元素。
◆精密度:相对标准偏差RSD≤2%
◆稳定性:相对标准偏差RSD≤3%(一小时测量)
◆测量线性范围:相对系数≥0.9995%
硬件配置:
1.射频发生器:
◆电路类型:电感反馈式自激振荡电路、同轴电缆输出、匹配调谐、取功率反馈进行闭环自动控制。
◆工作频率:40MHZ
◆频率稳定性:<0.1%
◆输出功率:800-1200W
◆输出功率稳定性:<0.5%
◆电磁场泄漏射强度:距机身30cm 电场强度E: <2V/m 磁场强度: <0.2A/m
◆电源:220V 25A
2.气路进样系统:
◆输出工作线圈内径25mm,3匝,
◆配三同心外径20mm的石英炬管
◆同轴型喷雾器外径6mm
◆双筒形雾室外径35mm
◆氩气流计规格和载气压力表规格
◆等离子气流量计(100-1000)L/h ② 辅助气流量计(10-100)L/h
◆载气流量计(10-100)L/h ④ 载气稳压阀(0-0.4MPa)
3.扫描分光器:
◆光路:Czerny Turner型
◆焦距:750mm/1000mm
◆光栅规格:离子刻蚀全息光栅,刻线密度3600线/mm或2400线/mm,刻线面积(80×110)mm
◆分辩率:0.008nm
◆扫描波长范围:3600线/mm扫描波长范围:195-500nm
2400线/mm扫描波长范围:195-800nm
◆步进电机驱动最小步距:0.0006nm
◆反射镜规格:(78×105×16)mm
◆透镜Φ30,1:1成像
4.检测系统:
◆光电倍增管规格:R212UH,R928
◆光电倍增管负高压:(200-1000)V,稳定性<0.05%
◆光电倍增管电流测量范围:10-12~10-4A
信号采集为V/F交换,1mA对应100Hz
JB-1000型ICP光谱仪使用分析操作软件,操作便捷、功能强大、可同时实现测定、数据处理、校正、数据输出等功能。
◆寻零级:寻零级是仪器测量定位的基本依据,每次开机时,先进的自动零级谱线的校正,确定仪器机械零点。
◆加入谱线
◆建立分析方法:首先根据测元素的种类,启动程序后,然后用户可以从方法界面上的元素周期表中调出待测元素,并选择该元素的谱线,用户建立一套好的分析方法,可大大提高工作效率。
◆标准曲线:标准曲线,是对样品进行定量测量的依据,定量测量需要先用标准测量后,软件计算得出标准曲线,依据标准曲线,进行强度测量,用这个强度值根据标准曲线的方程计算得出浓度值。
◆自动寻峰
◆谱图分析:方法中已经添加的谱线进行寻峰工作,软件可自动找出谱线的峰值,谱图当中存在多个峰时允许用户进行手动选定,以排除待测元素的谱线以外干扰元素。
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